Problem of testing fine optics in industrial conditions with the highest accuracy is considered. Requirements to the quality of optical surfaces and wavefront errors referred to various kinds of optical systems are discussed. The disadvantages of the use of test parts with etalon surfaces in interferometric measurements are considered and the dead circle of the use of the unknown-shaped reference surfaces is revealed. The solution of this problem is proposed through application of the point diffraction interferometer (PDI). The advanced schematic of such an interferometer is presented; unlimited accuracy and industrial testing possibilities of the upgraded Linnik interferometer are discussed.
Решена задача повышения точности интерференционных измерений путем выделения линий центров интерференционных полос -изофот. Интерферограмма может быть получена, в частности, на микроинтерферометре Линника. Рассматриваются принципы изофотометрии, используемые при компьютерной обработке интерферограмм. В основе изофотометрии лежит применение приемника-анализатора изображения, выполняющего преобразование интерференционного изображения с осуществлением функции преобразования типа comb. Благодаря такому преобразованию достигается повышение точности интерференционных измерений в 5-10 раз.
scite is a Brooklyn-based organization that helps researchers better discover and understand research articles through Smart Citations–citations that display the context of the citation and describe whether the article provides supporting or contrasting evidence. scite is used by students and researchers from around the world and is funded in part by the National Science Foundation and the National Institute on Drug Abuse of the National Institutes of Health.