This paper summarizes experiences available for the measurement of lattice strains in different materials with different wavelengths to evaluate stresses by means of X-rays. The recommendations given are based on previous statements. Some principles of fundamentals of X-ray physics for the recording of interference lines with Ω and ψ-diffractometers are dealt with. Methods applicable for the determination of the peak position of the interference lines, the assessment of linear and non-linear lattice strain distributions, and tine calculation of stresses are outlined. For iron, aluminium, copper, nickel and titanium the constants for practical X-ray stress evaluation (XSE) and the parameters of measurement are tabled.
Röntgenographische Untersuchungen an Flachproben aus weichem Thomasstahl mit 0,018% C nach der Erzeugung unterschiedlicher Versetzungsstrukturen durch 23prozentige Zugverformung im Temperaturbereich von 400 bis 650 °C und im Dehngesehwindigkeitsbereich von 10−5 bis 10−2 s−1. Quantitative Kennzeichnung der Versetzungsstrukturen auf Grund der tangential zum Debye‐Scherrer‐Kreis gemessenen Intensitätsverteilung von Röntgeneinzelreflexen. Sichtbarmachung der unterschiedlichen Versetzungsstrukturen mit Hilfe des elektronenmikroskopischen Durchstrahlungsverfahrens. Röntgenographische Messung der Gitterkonstanten mit (310)‐ und (211)‐Interferenzen. Errechnung der sich nach plastischer Verformung ausbildenden Gittereigenverformung für verschiedene Interferenzen und Probenformen.
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