Иркутский национальный исследовательский технический университет (664074, Россия, г. Иркутск, ул. Лермонтова, 83) Аннотация. Калиброванный металл представлен как эффективный вид заготовок для ряда металлообрабатывающих технологий. Более широ-кому его использованию в промышленности препятствуют остаточные напряжения, формирующиеся в процессе холодного деформиро-вания. Целью настоящего исследования явилось определение основных параметров калибровки, влияющих на формирование остаточных напряжений. Главные компоненты тензора остаточных напряжений в калиброванных прутках определены по методу обтачивания и рас-тачивания одного цилиндра. Для выявления влияния основных параметров процесса калибровки на остаточное напряженное состояние использована методика планирования многофакторных экспериментов. Для учета одновременного влияния на остаточные напряжения величины относительного обжатия, угла рабочего конуса волоки, скорости калибровки, качества смазки был спланирован и реализован дробный четырехфакторный эксперимент. Из проведенных опытов выявлено, что параметры процесса калибровки существенно влияют на остаточные напряжения, которые изменяются не только по величине, но и по знаку. Результаты экспериментов показали, что в диа-пазоне углов волоки от 8 до 24° тангенциальные и осевые остаточные напряжения одновременно увеличивается: возрастают в 2,3 раза, а σ φ max - в 1,8 раза. С увеличением длины калибрующей зоны максимальные осевые остаточные напряжения растяжения снижаются на 52 %, а тангенциальные увеличиваются на 21 %. Установлено влияние основных параметров процесса калибровки на величину и харак-тер распределения по сечению цилиндрических прутков осевых, тангенциальных и радиальных остаточных напряжений. Смена знака остаточных напряжений зависит от параметров деформирования и происходит на глубине (0,5 - 0,8)r / R. Выявлено, что при режимах ка-либровки, которые используют на производстве, в периферийных слоях прутков при холодной обработке давлением формируются осевые и тангенциальные остаточные напряжения растяжения, а в центральных слоях - напряжения сжатия. Радиальные остаточные напряжения на поверхности равны нулю, а в остальном объеме тела остаточные напряжения - сжимающие.Ключевые слова: калиброванный металл, остаточные напряжения, параметры калибровки, обжатие, угол рабочего конуса, длина калибрующей зоны. DOI: 10.17073/0368-0797-2017-2-109-115Калиброванный металл, получаемый холодным волочением или калибровкой, находит все большее применение и особенно в отраслях крупносерийного производства деталей [1 - 3]. Исследованиями многих отечественных и зарубежных ученых было доказано существенное влияние остаточных напряжений на ус-ловия эксплуатации и срок службы деталей [4 - 18].Целью настоящего исследования явилось определе-ние основных параметров калибровки, влияющих на формирование остаточных напряжений. Главные ком-поненты тензора остаточных напряжений в калибро-ванных прутках определены по методу обтачивания и растачивания одного цилиндра [4, 5]. Для выявления влияния основных параметров процесса к...
Исследованы p + -n−диоды. Диоды изготовлены на пластинах однородно легированного фосфором моно-кристаллического кремния (толщина 460 мкм, плоскость (111)), выращенно-го методом бестигельной зонной плав-ки. Удельное сопротивление кремния -90 Ом ⋅ см, концентрация фосфора -5 ⋅ 10 13 см −3 . Диоды подвергнуты облучению ионами криптона с энер-гией 250 МэВ. Флюенс облучения -10 8 см −2 . Радиационные дефекты, вводимые высокоэнергетической имплантацией ионов криптона, иссле-дованы с помощью нестационарной спектроскопии глубоких уровней (DLTS -Deep−level transient spectroscopy). Спектры DLTS регистрировали на частоте 1 МГц в интервале темпера-тур 78-290 К. Вольт−фарадные харак-теристики измерены при напряжении обратного смещения от 0 до −19 В на частоте 1 МГц. Показано, что основ-ными радиационными дефектами являются А−центры и дивакансии. Установлено, что вид спектров DLTS в интервале температур 150-260 K существенно зависит от напряжения эмиссии U e . Варьирование U e в ходе эксперимента позволило разделить вклады от различных дефектов в спектр DLTS в интервале температур 150-260 К. Показано, что, помимо А−центров и дивакансий, при облуче-нии формируются многовакансионные комплексы с энергетическим уровнем E t = E c − (0,50 ± 0,02) эВ и сечением за-хвата электронов ~ 4 ⋅ 10 −13 см 2 .Ключевые слова: нестационарная спектроскопия глубоких уровней, ра-диационные дефекты, кремний, диод, высокоэнергетическая ионная имплан-тация. ВведениеОблучение высокоэнергети-ческими тяжелыми ионами можно использовать для оптимизации параметров быстродействующих силовых диодов. Оно позволяет до-биться такого же быстродействия диодов, как и облучение электро-нами, но при меньшем увеличении сопротивления базы, а значит, и прямого падения напряжения [1][2][3][4]. В некоторых случаях это может оправдывать существенно бóльшие финансовые затраты на высокоэнергетическую имплан-тацию. В отличие от облучения легкими ионами, облучение вы-сокоэнергетическими тяжелыми ионами приводит к образованию скоплений радиационных дефек-тов (многовакансионных и меж-узельных комплексов) [5, 6]. Для отработки технологических режи-мов создания быстродействующих диодов необходима информация о составе радиационных дефектов и их распределении по глубине. Ме-тодики емкостной спектроскопии достаточно широко используются для анализа дефектно−примесного состава барьерных структур. Наи-более информативным методом является нестационарная спектро-скопия глубоких уровней (DLTSDeep−level transient spectroscopy). При облучении высокоэнергети-ческими ионами радиационные дефекты неравномерно распре-делены по глубине. Максимум их
scite is a Brooklyn-based organization that helps researchers better discover and understand research articles through Smart Citations–citations that display the context of the citation and describe whether the article provides supporting or contrasting evidence. scite is used by students and researchers from around the world and is funded in part by the National Science Foundation and the National Institute on Drug Abuse of the National Institutes of Health.
hi@scite.ai
10624 S. Eastern Ave., Ste. A-614
Henderson, NV 89052, USA
Copyright © 2024 scite LLC. All rights reserved.
Made with 💙 for researchers
Part of the Research Solutions Family.