Приведены результаты иссле дования ВАХ и механизма проводимости в RERAM на базе нестехиометрического нитрида. Сделана попытка объяснить разброс экспериментальных характеристик и сложность моделирования токопереноса в мемристорах кластерной структурой пленки нестехиометрического нитрида. Выдвинуто предположение, что при реальных толщинах функционального слоя в 4–8 нм, разброс параметров RERAM связан с неоднородностью фазового состава этого слоя. Наличие в слое кластеров, соизмеримых с толщиной пленки и имеющих различный химический состав, вносит элемент случайности в результаты измерения ВАХ и не позволяет корректно рассчитать параметры модели.
scite is a Brooklyn-based organization that helps researchers better discover and understand research articles through Smart Citations–citations that display the context of the citation and describe whether the article provides supporting or contrasting evidence. scite is used by students and researchers from around the world and is funded in part by the National Science Foundation and the National Institute on Drug Abuse of the National Institutes of Health.