A velocity spectrum is obtained by dispersing the photoelectrons with a uniform electrostatic field; it is recorded on an electronographic film with the help of an electronic camera. To each point of the plate correspond definite values of the tangential and normal velocities of photoelectrons. The angular and energetic distribution N(W, φ) is calculated from the density of the electronographic plate. We hereby show the first structures obtained from thin films of gold.
De nombreux travaux sur la distribution énergétique des photoélectrons ont déjà fourni des renseignements importants sur la structure électronique des solides. L'intérêt des variations de cette distribution avec l'angle d'émission a déjà été maintes fois souligné notamment par Mahan [1] et par Vernier [2] pour ce qui concerne les photons de faible énergie. Les travaux expérimentaux se sont multipliés ces dernières années. Dans le dispositif que nous décrivons ici le spectre de vitesse des photoélectrons est formé sur une grille à maille fine en dispersant le pinceau d'électron issu d'une tache quasi ponctuelle à l'aide d'un champ électrique uniforme. A chaque point du spectre correspond une valeur bien définie des deux composantes tangentielle et normale de la vitesse initiale. La grille est mise à la place de la photocathode d'une caméra électronique. Les électrons lents qui traversent la grille sont accélérés et focalisés sur une plaque photographique qui enregistre le spectre. En tenant compte de la géométrie de l'appareil nous déduisons de la densité de la plaque photographique la distribution des électrons en angle et en énergie N(W, φ). Les calculs ont été effectués sur ordinateur. Nous donnons les premiers résultats obtenus sur les couches minces de métaux nobles
Over recent years, the availability of man made “crystals“ (Layered Synthetic Microstructures or Multilayers) has led to a significant extension of the capabilities of WD XRF for the lighter elements. In particular, the elements from Atomic Number 5 (Boron) to Atomic Number 12 (Magnesium) have benefitted.This paper will cover the lower end of this range and show how selection of multilayers is made. It will then consider the optimization of collimation to suit The performance characteristics of the multilayer device. One of many new applications opened up by these advances will be covered in detail (analysis of Boron in BPSG coatings on Silicon Wafers). Finally, a word of warning will be issued to those seeking to apply this newfound performance in routine XRF environments.
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