Präparate von CdO, CaO, MnO und NiO, die unter verschiedenen Bedingungen gewonnen worden waren, wurden röntgenographisch hinsichtlich ihrer Primärteilchengröße und verschiedener Arten von Gitterstörungen sowie der Beziehungen zwischen diesen Größen, elektronenmikroskopisch hinsichtlich der auftretenden Sekundärstrukturen untersucht. Die Verhältnisse werden auf Grund von Vorstellungen interpretiert, die in einer früheren Untersuchung entsprechender MgO‐Präparate entwickelt worden waren, doch nimmt NiO in seinen Eigenschaften eine Sonderstellung ein.
Die verschiedenen Methoden zur Bestimmung von Teilchengröße und Gitterverzerrungen aus Röntgenreflexverbreiterungen (Varianz‐ und Fourier‐Analyse, Integralbreitenauswertung) wurden auf Grund von Profilmessungen der (002)‐ und (004)‐Reflexe von fünf CdO‐Präparaten verglichen. Die Ergebnisse der Varianzanalyse weichen in systematischer Weise von den ‐ untereinander gut übereinstimmenden ‐ Werten der anderen Verfahren ab. Die Ursache dieser Abweichungen dürfte derjenigen des „hook effect”︁ in der Fourier‐Analyse entsprechen.
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