The behavior of the phase transformation in equiatomic TiNi alloy during thermal cycling under applied stresses is studied by measuring the electrical resistivity and investigating the diffuse streak diffraction of electron and the X-ray diffraction. The results show that the stress has a strong effect on the lattice instability. The tensile stress promotes the softening of phonon modes which relate to the nucleations of the R phase and the martensitic phase so that the tensile stress is favourable for the formation of the R phase and martensitic phase, while the compression stress has negative effects. The investigation shows that the effect of stress on (111) longitudinal phonon mode is larger than that on (110) transversal phonon mode. The tensile stress enhances particularly the softening of (111) longitudinal phonon mode which corresponds mostly to the R phase transformation, but the compression stress is unfavourable for it. It is identified that the diffuse streak diffraction patterns of electron associated with more R phase induced by the tensile stress arises from the softening of (111) longitudinal phonon mode.I n einer iiquiatomaren TiNi-Legierung wird das Verhalten des Phasenubergangs wahrend thermischer zyklischer Behandlung unter angelegten Spannungen mittels Messung des elektrischen Widerstands and Anwendung der diffusen Streifenbeugung von Elektronen sowie der Rontgenbeugung untersucht. Die Ergebnisse zeigen, daB die Spannung einen groBen EinfluB auf die Gitterinstabilitat hat. Dehnungsspannung fordert die Erweichung der Phononenmoden, was mit der Keimbildung der R-Phase und der Martensit-Phase verbunden ist, so daB die Dehnungsspannung fur die Bildung der R-Phase und der Martensitphase vorteilhaft ist, wiihrend eine Kompressionsspannung negativen EinfluB hat. Die Untersuchung ergibt, daB der EinfluB einer Spannung auf die longitudinale (111)-Phononenmode groner ist als der auf transversale (110)-Phononmoden. Die Dehnungsspannung erhoht besonders die Erweichung der longitudinalen (1 1 1)-Phononmode, die hauptsiichlich dem R-Phasenubergang entspricht, jedoch ist dafur eine Kompressionsspannung unvorteilhaft. Es wird festgestellt, daR das diffuse Streifenbeugungs-Diagram mit der groReren durch die Dehnungsspannung induzierten R-Phase verkniipften Elektronen von der Erweichung der longitudinalen (11 1)-Phononmode herruhrt.
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