Resumo Neste trabalho foi empregado crescimento anódico de óxido de alumínio em solução fosfato (H 3 PO 4) a 0,4M sobre substrato de alumínio. A anodização usada foi a potenciostática sob tensões de 20V, 40V e 60V. As espessuras dos óxidos sobre as amostras foram obtidas mediante modelamento pela técnica de elipsometria. Esta técnica acessa diretamente parâmetros elipsométricos () e (Δ), e os compara com os gerados por modelagem. Com a técnica também é possível medir as propriedades ópticas como os índices de refração e os coeficientes de extinção em função do comprimento de onda. Palavras-chave:Elipsometria Espectroscópica; Óxido Anódico; Modelagem.
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