2021
DOI: 10.21883/ftt.2021.02.50465.218
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Резонансное рассеяние света оптическими фононами в гомоэпитксиальном нанослое n-GaP, выращенном на подложке (001)n-GaP

Abstract: Представлены результаты обнаружения резонансного усиления интенсивности рассеяния света оптическими фононами в гомоэпитаксиальном наномасштабном слое n-GaP, толщиной 70 nm, выращенном методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений на проводящей сильнолегированной подложке кристалла n-GaP, ориентированной по оси (001). Показано, что при комнатной температуре в спектре рамановского рассеяния света такого нанослоя (001) n-GaP в образце n-GaP/n-GaP (001) в сравнении со спектром высокоомного кристал… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
3

Citation Types

0
0
0

Year Published

2023
2023
2023
2023

Publication Types

Select...
1

Relationship

0
1

Authors

Journals

citations
Cited by 1 publication
(3 citation statements)
references
References 30 publications
0
0
0
Order By: Relevance
“…Развитые нами ранее методы определения основных электрических параметров полупроводниковконцентрации n и подвижности µ свободных носителей заряда по спектрам LO(Ŵ)+ колебаний [16,17], позволили бесконтактным и неразрушающим способом определить их локальные значения. Полученные значения оказались [18,19]. При этом необходимо отметить, что на пути создания приборных структур на основе перспективных гомоэпитаксиальных слоев наномасштабной толщины, выращенных на сильнолегированных подложках, имеются вполне очевидные непреодолимые сложности определения степени совершенства кристаллической атомной структуры традиционными методами рентгеноструктурного анализа и исследования их электрических свойств времязатратными методами.…”
Section: Introductionunclassified
See 2 more Smart Citations
“…Развитые нами ранее методы определения основных электрических параметров полупроводниковконцентрации n и подвижности µ свободных носителей заряда по спектрам LO(Ŵ)+ колебаний [16,17], позволили бесконтактным и неразрушающим способом определить их локальные значения. Полученные значения оказались [18,19]. При этом необходимо отметить, что на пути создания приборных структур на основе перспективных гомоэпитаксиальных слоев наномасштабной толщины, выращенных на сильнолегированных подложках, имеются вполне очевидные непреодолимые сложности определения степени совершенства кристаллической атомной структуры традиционными методами рентгеноструктурного анализа и исследования их электрических свойств времязатратными методами.…”
Section: Introductionunclassified
“…Последние требуют приготовления омических контактов и проведения электрических измерений проводимости и эффекта Холла. В диапазоне частот от 600 до 800 cm −1 были выявлены достаточно узкие полосы довольно интенсивных линий рассеяния света второго порядка, связанные с различными комбинациями решеточных колебаний [19]. Установлено, что такие полосы обусловлены суммарными комбинациями и обертонами поперечных и продольных оптических фононов, с волновыми векторами соответствующими точкам , K, X, L и Ŵ зоны Бриллюэна кристалла GaP.…”
Section: Introductionunclassified
See 1 more Smart Citation