Пространственные Характеристики Сверхпроводников И 3d-Холловский Микроскоп Для Их Исследования

Abstract

На основе преобразователей Холла разработан растровый микроскоп с площадью обзора 5x5 mm и с его помощью с высокими пространственным разрешением и чувствительностью измерена топология магнитного поля B(X,Y,Z) на поверхности и вокруг образцов YBa2Cu3O7-x и Bi2Sr2CaCu2O8+x без применения формул электродинамики. Дифференциальная методика с фиксацией начала и конца перемещения датчика обеспечивала точность сканирования по осям XY,Z ~10 и ~1 μm соответственно в грубом и плавном диапазонах. Максимальный размер перемещения по оси Z составлял 25 mm. Для устранения ошибок измерения нормированные распределения B(Z)/Bmax(0) были экстраполированы к оси ординат, смещенной по оси Z на величину зазора между поверхностью образца и преобразователем Холла. Ключевые слова: 3D-холловский микроскоп, ВТСП, двойникование, преобразователь Холла.