2018
DOI: 10.21883/ftt.2018.05.45780.313
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Влияние размера частиц и удельной поверхности на определение плотности нанокристаллических порошков сульфида серебра Ag-=SUB=-2-=/SUB=-S

Abstract: Изучено влияние размера частиц и удельной поверхности порошков сульфида серебра на их плотность, измеренную методом гелиевой пикнометрии. Порошки с разным средним размером частиц получены мето-дом гидрохимического осаждения. Размер частиц в порошках сульфида серебра оценен методом Брунауэра− Эммета−Теллера по изотермам адсорбции молекулярного азота, а для тонкодисперсных порошков также методом рентгеновской дифракции по уширению дифракционных отражений. Показано, что плотность тонкодисперсных порошков, измерен… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1

Citation Types

0
0
0

Year Published

2023
2023
2024
2024

Publication Types

Select...
2

Relationship

0
2

Authors

Journals

citations
Cited by 2 publications
(2 citation statements)
references
References 11 publications
(20 reference statements)
0
0
0
Order By: Relevance
“…Измерения удельной поверхности по методике BET проводились на анализаторе удельной поверхности (Gemini VII 2390 V1.03 (V1.03t), США). На основе данных о плотности и удельной поверхности был рассчитан средний размер частиц для каждой из переработанных фракций [17].…”
Section: методика исследований методика исследованийunclassified
“…Измерения удельной поверхности по методике BET проводились на анализаторе удельной поверхности (Gemini VII 2390 V1.03 (V1.03t), США). На основе данных о плотности и удельной поверхности был рассчитан средний размер частиц для каждой из переработанных фракций [17].…”
Section: методика исследований методика исследованийunclassified
“…Помимо этого, образцы могли содержать небольшое количество примеси металлического алюминия. Удельная поверхность каждого из двух использованных образцов составляла соответственно 20 и 69 м 2 /г, расчеты размеров шарообразных частиц из данных по удельной поверхности [12] (порядка 70 и 20 нм) коррелировали с такой оценкой по электронным микрофотографиям.…”
unclassified