Влияние Особенностей Работы Системы Управления Туннельного Микроскопа На Точность Измерений

Simulation of Interaction Process in the System STM Probe – Sample With a Complex Relief: Recommendations on the Standard Technological Mode

“…ширина зазора зависит от приложенного напряжения. Известно, что существенная часть ошибок измерений параметров нанорельефа поверхности туннельным микроскопом может быть обусловлена особенностями управления движением зонда [3][4][5]. Таким образом, с одной стороны учет геометрии острия иглы при интерпретации измерений позволяет существенно уменьшить вклад указанных ошибок, с другой стороны уже разработаны запатентованные методы обработки изображений, повышающие уровень соответствия рельефа поверхности физическим условиям сканирования [6].…”