2016
DOI: 10.21883/ftp.2016.12.43887.33
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Брэгговский резонанс в системе плазмонных нановключений AsSb в AlGaAs

Abstract: Исследовалось оптическое отражение от периодических структур на основе полупроводниковой матрицы AlGaAs, содержащей двумерные массивы плазмонных нановключений AsSb. Число слоев нановключений составляло 12 и 24, номинальный период расположения слоев -100 или 110 нм соответственно. В экспе-риментальных спектрах коэффициента оптического отражения при нормальном падении нами наблюдалась резонансная брэгговская дифракция с главными пиками на длинах волн 757 и 775 нм (1.64 и 1.60 эВ), в зависимости от пространственн… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...

Citation Types

0
0
0

Publication Types

Select...

Relationship

0
0

Authors

Journals

citations
Cited by 0 publications
references
References 8 publications
0
0
0
Order By: Relevance

No citations

Set email alert for when this publication receives citations?