Zur Energieverteilung der Sekundärelektronen II. Meßergebnisse und Diskussion

Abstract

InhaltsiiborsichtIm AnschluB an eine fruhere Arbeit des Verfassers, in der eine neue Methode zur Messung der Eiiergieverteilnng von Sekundarelektronen beschrieben ist, werden naeh dieser Methode erhaltene experimentclle Ergebnisse iiber die Eiiergieverteilung von Hekundarelektronen niitgeteilt, wobei speziell die Materialabhaiigigkeit der Energievert>eilung genauer untersucht nurde :1. Die Energieverteilungen der Sekundarelektronen aus allen bier untcrsiichten Materialim Bind im ausgeheizten Zustand praktisch ident>isch : glatt'er Kurrcnrerlauf mit eineni Maximum im Bereich von 2 V (1,4-2,2).2. Nach starkerer Warmebehandlung (Gliiheii bei 700-800" C) trcteri bei den rerschiedencn Materialien spezifische Resonderheiten hervor (mehrere mehr odcr weiiiger ausgepragte Maxima) ; hierbei-fallen besonders die Berylliuiii-Legierungen aus dern sonstigen Material heraus, die ein ausgesprocheiies Nebeiimaxiniuiri bei etwa 6 V besitzen. Die Sekundarelektronen ausAlkaliphotoschichtel nehnien eiiie Soriderstellung ein: die Halbwertsbreite ihrer Energieverteilung betragt nur etwa 1/5 dor Halbwertbreite der iibrigcn Eriergieverteilungskurven, wiihrend die Ahszissenlage des Maximums niit der bei anderen Materialien gefundeneii ubereinstimmt (etwa 2 V).4. Die Energieverteilung der Sekundarelektronen ist voii der Eriergie der Primarelektronen zwischen 100 und 1000 V unabhangig, kleinere Abweiehungen treten nur bei kleineren Primarenergien auf: 5. Die Energieverteilung ist in ihrer Form unabharigip von der dustrittsarbeit der untersuchten Flachen und zeigt keinen eiiideutigcn Zusainnienhang mit der GroBe der Ausbeute.Mit diesen Untcrsuchungen ist die Frage nach der Energieverteilung der Xekundarelektronen in ihrer Materialabhangigkeit experimentell u-citgehend geklart,, iiber die in der Literatur bisher noch keine Ubereinstimmung vorlag.Im Teil I der vorliegenden Arbeitl) wurden eingarlgs alle von 1925 bis 1940 vorliegendeii Messungen uber die Energieverteilung von Sekuiidarelelitronerl I ) Teil I: Die Methode des longitudinalen Magnetfeldcs (in1 folyenden kurz a h ..1" bezeiehnet) ist bereits 1941 in den Annalen der Physik erschicccn (Ed. b 9 , Hcit 1, S. E 9 bis HU).

Characterizing Cross‐Linking Within Polymeric Biomaterials in the SEM by Secondary Electron Hyperspectral Imaging

“…[1] However, it is only with recent advancements in instrumentation, cross-linking processes of polymer-derived biomaterials have been previously surveyed by applying diverse analytical techniques such as nuclear magnetic resonance (NMR), differential scanning calorimetry, and Raman spectroscopy (RS). [1] However, it is only with recent advancements in instrumentation, cross-linking processes of polymer-derived biomaterials have been previously surveyed by applying diverse analytical techniques such as nuclear magnetic resonance (NMR), differential scanning calorimetry, and Raman spectroscopy (RS).…”

“…The efficacy of the SE spectroscopy capability is demonstrated in this paper by the analysis of poly(glycerol sebacate)-methacrylate (PGS-M) at different degrees of methacrylation delivering new insights into PGS-M morphology.The potential of secondary electron (SE) spectroscopy for material characterization has been investigated as far back as 1947. [1] However, it is only with recent advancements in instrumentation,…”

“…The potential of secondary electron (SE) spectroscopy for material characterization has been investigated as far back as 1947. [1] However, it is only with recent advancements in instrumentation,…”

Numerical modeling of electron transport in a cylindrical cell

“…8,9 Elastic reflection from the target electrode is also taken into account using the empirical reflection coefficient R. Stationary and transient processes are analyzed numerically using the modified particle technique of Belova et al 10 for the cylindrical structures. 8,9 Elastic reflection from the target electrode is also taken into account using the empirical reflection coefficient R. Stationary and transient processes are analyzed numerically using the modified particle technique of Belova et al 10 for the cylindrical structures.…”

Imaging with backscattered electrons in a scanning electron microscope

“…Charging artefacts occur in the secondary electron image because of the low average energy, typically 2eV to 5eV, of SE (Kollath 1947, Bruining 1954, Colby 1969. A voltage buildup of the same magnitude on the specimen may cause significant variations in the number of SE detected, resulting in charging artefacts (Van Veld and Shaffner 1971, Pawley 1972,Shaffner and Hearle 1976.…”