Utilização do espectrômetro Alta II para obtenção da absortância solar de superfícies opacas

Abstract

A absortância solar de superfícies possui grande influência nos ganhos de calor do edifício, influenciando o seu comportamento térmico. O método mais preciso para obter a absortância de uma amostra é por meio da medição de sua refletância mediante o uso de um espectrofotômetro. No entanto, este equipamento possui um custo elevado e não permite a realização de medições de campo. Uma alternativa para esse método é a utilização do espectrômetro Alta II, que é mais acessível e permite a medição das refletâncias em onze comprimentos de onda. Este artigo apresenta a metodologia de medições de refletância usando o espectrômetro Alta II e os procedimentos de cálculo para obtenção da absortância solar. Como resultado, este artigo apresenta a absortância solar obtida em ensaios para alguns materiais, que podem servir como referência para pesquisas futuras.

Análise comparativa entre espectrômetro portátil e espectrofotômetro com esfera integradora para medição da refletância solar de telhas

“…Na Tabela 2 apresentam-se os valores de refletância solar medidos com o ALTA II com o aparato escuro e em ambiente interno (ρAcom), o mesmo equipamento sem o aparato escuro em ambiente interno (ρAsem), e ainda sem o aparato escuro em ambiente externo (ρAEX), assim como as relações entre os valores medidos. Comparando-se os valores medidos com o ALTA II das diferentes formas como a coleta de dados foi realizada, percebe-se que para os valores das medições em ambiente externo e aqueles obtidos em ambiente interno com o aparato escuro (método sugerido pelas pesquisas já desenvolvidas por Pereira et al (2015Pereira et al ( , 2017Pereira et al ( , 2021, a telha cerâmica natural 7 (TCN07) apresenta a maior diferença de refletância solar em valores absolutos (0,06). Considerando-se o percentual de diferença entre os valores medidos em ambiente externo sem o aparato e interno com o aparato, o maior é observado para a TCE10, com 30%.…”