1959
DOI: 10.1002/andp.19594580107
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Über die Halbleitereigenschaften des Kupferoxyduls. XIII Leitfähigkeitsmessungen an Kupferoxydul im Existenzgebiet bei Störung des thermodynamischen Gleichgewichtes

Abstract: t e c k e r Mit 6 Abbildungen im Existenzgebiet bei Storung des thermodynamischen Inhaltsu bersich tDurch Messung der isothermen Einstellgeschwindigkeit der elektrischen Leitfiihigkeit von Kupferoxydulproben bei 700" C bis 1000" C auf einen neuen Druck wird der Diffusionskoeffizient der Cu-Leerstellen anniihernd bestimmt.Die Ergebnisse machen eine Revision des von G.Blankenburg a d 0. B o t t g er2) entworfenen Abkuhlungsmodelles notig.Eine Nachpriifung der von G. B l a n k e n b~r g~)~) in der X. Mitteilung d… Show more

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