Two-Magnon Relaxation Processes in Nanocrystalline Thin Magnetic Films

Abstract

Численным анализом микромагнитной модели обнаружена «резонансная» особенность процессов релаксации в нанокристаллических тонких магнитных пленках. Особенность проявляется в виде резкого уширения линии ферромагнитного резонанса (ФМР) на определенной частоте f 1 , зависящей от магнитных характеристик пленки, и она наблюдается только в пленках, толщина которых превышает некоторое пороговое значение d min. Резкое уширение линии ФМР сопровождается значительным смещением резонансного поля, причем величина смещения меняет знак на частоте ~ f 1. Аналитически показано, что природа наблюдаемых эффектов связана с двухмагнонным процессом рассеяния спиновых волн на квазипериодической магнитной микроструктуре-«ряби» намагниченности. Полученные выражения для порогового значения толщины пленки d min и частоты максимального уширения линии ФМР f 1 хорошо согласуются с результатами численного расчета микромагнитной модели.