2018
DOI: 10.1088/1742-6596/1065/5/052044
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Towards a Metrology class ADC based on Josephson junction devices

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“…El método XRCD busca relacionar la masa de una esfera de silicio 28, ver foto 9, muy bien pulida y caracterizada, con la cantidad deátomos que hay en ella y la masa deĺ atomo de 28 Si. La cantidad deátomos se obtiene como El experimento se realiza en dos etapas como muestra la Fig.…”
Section: B Los Efectos De La Redefinición Del Kelvin El Mol Y El Kiunclassified
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“…El método XRCD busca relacionar la masa de una esfera de silicio 28, ver foto 9, muy bien pulida y caracterizada, con la cantidad deátomos que hay en ella y la masa deĺ atomo de 28 Si. La cantidad deátomos se obtiene como El experimento se realiza en dos etapas como muestra la Fig.…”
Section: B Los Efectos De La Redefinición Del Kelvin El Mol Y El Kiunclassified
“…Un ejemplo sobresaliente es la determinación de la linealidad del medidor, se mide una serie de puntos equidistantes que cubren todo el rango bajo estudio y se realiza un ajuste, el residuo obtenido indica la linealidad del dispositivo. Esta aplicación es clave para el desarrollo de los multímetros de alta exactitud modernos [27], [28].…”
Section: Apéndice a El Efecto Josephsonunclassified