The Physical Nature and Methodological Grounds of Diagnostics with Use of Effect of Asymmetry of Azimuthal Dependence of the Total Integrated Intensity of a Dynamical X-Ray Diffraction in Crystals with the Disturbed Surface Layer

Abstract

Оттиски доступны непосредственно от издателÿ Ôотокопирование разреøено только в соответствии с лицензией  2017 ИМÔ (Институт металлофизики им. Г. В. Курдюмова НАН Óкраины) Напечатано в Óкраине.

Creation of the Integrated Dynamical Diffractometry Basics for Micro- and Nanoinhomogeneities of Crystal Structure with Defects and Disturbed Surface Layer

“…Для неразрушающей рентгеновской диагностики соизмеримых с длиной экстинкции толщин нарушенного поверхностного слоя (НПС) разработана трёхслойная модель рассеяния РЛ монокристаллом с НПС [6,11]. Согласно этой модели в дополнение к вкладам от кинематически и динамически рассеивающих слоёв в выражение для ПИИДД входит и интерференционное слагаемое: На основании разработанной в [10] теории создана обобщённая модель, описывающая ПИИДД для кристаллов, в которых присутствуют дефекты нескольких типов, имеющие произвольные размеры, в том числе соизмеримые с длиной экстинкции [11,12], а также НПС большой толщины:…”