Впервые рассмотрено наложение эффектов разного уровня и порядков при формировании результирую-щего магнитооптического отклика от структур типа магнитофотонных кристаллов для различных длин волн падающего излучения в областях, далеких от плазмонных резонансов. Изучены вклады в магнитооптический отклик интерференционных и дифракционных явлений в максимумах различных порядков в трехмерных системах типа магнитофотонных кристаллов. Показано, что использование интегрального отклика для ана-лиза магнитооптических эффектов приводит к исчезновению интерференционных явлений. Дифракционный максимум нулевого порядка адекватно отражает магнитную составляющую магнитооптического отклика. Проведены численные оценки наблюдаемых дифракционных и интерференционных эффектов. DOI: 10.21883/JTF.2018.06.46022.2133 Введение В настоящее время одним из распространенных ме-тодов исследования магнитных и магнитооптических (МО) свойств структур, особенно в нанометровом диа-пазоне размеров, являются магнитооптические измере-ния различных характеристик, прежде всего магнито-оптического экваториального эффекта Керра (МОЭЭК). Особый интерес представляют структуры, обладающие свойством пространственной периодичности. Подобные магнитные структуры носят название магнито-фотонных кристаллов и обладают рядом уникальных свойств. При определенных условиях эксперимента в них наблюдает-ся резкий рост отклика системы на внешнее воздействие электромагнитным излучением [1,2].Особое внимание уделяется магнитным и магнитооп-тическим свойствам периодических структур микронных и субмикронных размеров различной формы, особенно точкам и полоскам. Изучение подобных массивов суб-микронных элементов является основой для разработ-ки наноструктурированной записывающей информацию среды и магнитной памяти на ее основе, в то время как взаимодействие между элементами определяет пре-делы интеграции магнитной памяти и записывающих сред. Эффекты взаимодействия между элементами в массивах гораздо меньше исследованы по сравнению с размерными эффектами. Магнитооптическая техника и, в частности, дифракционный магнитооптический эффект Керра (ДМОЭК) являются наиболее подходящими для исследования подобных явлений, поскольку они прояв-ляют высокую чувствительность к фиксации малейших изменений намагниченности тонких пленок и очень малых элементов [3]. ДМОЭК предоставляет ценную информацию о распределении намагниченности и ее анизотропии вследствие необычайной чувствительности метода к магнитным неоднородностям [3].Как правило, ДМОЭК наблюдался на периодических плоских двумерных структурах. В работах [4-9] ис-следовались металлические магнитные пленки, в кото-рых имелись периодически расположенные отверстия круглой [6], квадратной [8] и эллиптической [9] форм. При разной ориентации пленки относительно плоско-сти падения света измерялись магнитооптические петли гистерезиса (МОПГ) в различных дифракционных по-рядках. Обнаружено, что петля, измеренная на нулевом дифракционном максимуме, не обладает какими-либо особенностями, тогда как на максимумах высших поряд-ков они имеют место [8]. ...