The asymmetry and orientation dependence ofc-slip in tellurium

Abstract

Simple shear experiments are used to study the low temperature c-slip of tellurium single crystals. The temperature dependence of the yield parameters, i.e. the yield stress and the activation volume, is measured from 7°K t o room temperature without any activated aslip. High voltage electron microscopy and X-ray Berg-Barrett topography show that an homogene'bus distribution of long straight parallel c-screws is left in the crystal after low temperature deformation without noticeable polygonisation. Finally the strong orientation dependence of the elastic limit, as compared with a previoua study by compression in another orientation, is accounted for by assuming a non planer structure of the core of screws which extends into several prismatic planes a t one time.Le glissement c du tellure B basse tempBrat.ure a 6th BtudiB au moyen d'essais en cisaillement simple. La variation en fonction de la temperature de la limite Blastique et du volume d'activation correspondant a BtB obtenue de 77 K 8. l'ambiante en l'absence compl& de tout glissement a,. La deformation introduit dans le cristal une distribution homogene de longues vis rectilignes, parall&les, qui a BtB mise en Bvidence par microscopie Blectronique 8. haute tension; aucune polygonisation n'est prBsente. Enfin, la forte dB$ndance de la lixnite Blastique avec l'orientation, qui apparait lorsqu'on compare les presents essais 8. une etude anterieure en compression, dexplique en admettant que la structure de coeur des vis n'est pas plane, mais e'htend 811 contraire snr plusieurs plans primatiques & la fois.