2012
DOI: 10.1134/s1063782612090217
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Temperature dependence of the threshold current density in semiconductor lasers (λ = 1050–1070 nm)

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2
1
1
1

Citation Types

0
3
0
2

Year Published

2014
2014
2022
2022

Publication Types

Select...
7

Relationship

1
6

Authors

Journals

citations
Cited by 12 publications
(5 citation statements)
references
References 14 publications
0
3
0
2
Order By: Relevance
“…Table 2 lists the characteristic temperatures T 0 and T 1 , calculated in accordance with [13,14]. Heterostructure 1 has comparatively low characteristic temperatures, which points to its low temperature stability.…”
Section: Methodsmentioning
confidence: 99%
“…Table 2 lists the characteristic temperatures T 0 and T 1 , calculated in accordance with [13,14]. Heterostructure 1 has comparatively low characteristic temperatures, which points to its low temperature stability.…”
Section: Methodsmentioning
confidence: 99%
“…The laser heterostructure parameters are listed in Table 1. The composition of the waveguide solid solution is chosen taking into account the necessity of suppression of charge delocalisation from the active region into the waveguiding layers [11,12]. The waveguide width is increased to decrease the internal optical loss, the beam divergence, and the optical power density at the output mirror of the laser [13,14].…”
Section: Experimental Samples and Main Methodsmentioning
confidence: 99%
“…Сделана оценка доли термоэмиссионных токов электронов и дырок в широком интервале плотностей токов накачки -от близких к пороговому до сверхвысоких значений (> 10 кА/см 2 ). Показано, что для плотностей токов накачки, близких к пороговым значениям, эмиссия электронов оказывает определяющее влияние на эффективность инжекции носителей заряда в КЯ, что находится в хорошем согласии с выводами авторов работ [9][10][11]. С ростом уровня инжекции в результате уменьшения эффективной высоты потенциального барьера существенно растет доля термоэмиссионного дырочного тока.…”
Section: заключениеunclassified
“…Использование зависимости тока термоэлектронной эмиссии в соответствии с классической теорией было признано справедливым при вычислении скорости эмиссии электронов и дырок из КЯ лазерных гетероструктур. Имеется хорошее соответствие полученных результатов теоретических и экспериментальных исследований зависимости плотности пороговых токов от температуры, времени транспорта носителей заряда к КЯ, времени захвата носителей заряда в КЯ, скорости " утечки" электронов из КЯ в волновод от плотности заряда в КЯ [9][10][11]. В перечисленных публикациях основное внимание уделялось исследованиям лазерной эффективности в области плотностей токов в предпороговом и близких к пороговому режимах накачки, когда эмиссия электронов оказывает определяющее влияние.…”
Section: Introductionunclassified