2010
DOI: 10.1016/j.physb.2010.07.026
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Structural and optical investigations of AlxGa1−xAs:Si/GaAs(100) MOCVD heterostructures

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2
1
1
1

Citation Types

1
5
0
9

Year Published

2015
2015
2024
2024

Publication Types

Select...
9

Relationship

1
8

Authors

Journals

citations
Cited by 33 publications
(15 citation statements)
references
References 12 publications
1
5
0
9
Order By: Relevance
“…Расчеты в данном приближении показали, что ча-стота дополнительной моды (ω LO = 520 см −1 ), обна-руженной нами в эксперименте, практически совпа-дает с рассчитанной частотой для фононов Mg−As (ω LO = 512 см −1 ). Таким образом, можно с уверен-ностью говорить о том, что при легировании ато-мы магния замещают атомы в металлической подре-шетке слоя Al x Ga 1−x As по аналогии с тем, что мы уже наблюдали в высоколегированных кремнием и углеродом гетероструктурах Al x Ga 1−x As : Si/GaAs (100), Al x Ga 1−x As : C/GaAs (100) [8,9,11,32].…”
Section: рис 2 спектры рамановского рассеяния гетероструктурunclassified
See 1 more Smart Citation
“…Расчеты в данном приближении показали, что ча-стота дополнительной моды (ω LO = 520 см −1 ), обна-руженной нами в эксперименте, практически совпа-дает с рассчитанной частотой для фононов Mg−As (ω LO = 512 см −1 ). Таким образом, можно с уверен-ностью говорить о том, что при легировании ато-мы магния замещают атомы в металлической подре-шетке слоя Al x Ga 1−x As по аналогии с тем, что мы уже наблюдали в высоколегированных кремнием и углеродом гетероструктурах Al x Ga 1−x As : Si/GaAs (100), Al x Ga 1−x As : C/GaAs (100) [8,9,11,32].…”
Section: рис 2 спектры рамановского рассеяния гетероструктурunclassified
“…Тем не менее ежегодно наращиваемое исполь-зование GaAs-наногетероструктур в устройствах опто-электроники заставляет исследователей искать решение старых проблем и по-новому взглянуть на классические материалы [6][7][8][9][10][11].…”
Section: Introductionunclassified
“…Хорошо известно, что метод ИК-спектроскопии ши-роко используется для изучения тонких решеточных свойств и оценки структурного качества эпитаксиальных пленок, позволяет оценивать внутренние напряжения в кристаллической решетке, к которым данный метод является очень чувствительным [17,18].…”
Section: ик-спектроскопияunclassified
“…Постоянная решет-ки с учетом упругих напряжений в гетероэпитакси-альном слое a v в соответствии с линейной теорией упругости [7,13,14] может быть рассчитана следующим образом:…”
Section: структурные исследованияunclassified