2014
DOI: 10.1134/s1063783414120336
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Specific features of the electronic and atomic structures of silicon single crystals in the aluminum matrix

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2
1

Citation Types

0
0
0
6

Year Published

2018
2018
2018
2018

Publication Types

Select...
2

Relationship

1
1

Authors

Journals

citations
Cited by 2 publications
(6 citation statements)
references
References 7 publications
0
0
0
6
Order By: Relevance
“…Пленки состава Al 0.73 Si 0.27 были получены на кремниевой подложке Si(100) в Белорусском государственном университете информатики и радиоэлектроники магнетронным распылением по технологии [2,6]. Пленки состава Al 0.75 Si 0.25 были получены в Воронежском техническом университете на подложках Si(100) ионно-лучевым напылением [7].…”
Section: объекты и методы исследованияunclassified
See 4 more Smart Citations
“…Пленки состава Al 0.73 Si 0.27 были получены на кремниевой подложке Si(100) в Белорусском государственном университете информатики и радиоэлектроники магнетронным распылением по технологии [2,6]. Пленки состава Al 0.75 Si 0.25 были получены в Воронежском техническом университете на подложках Si(100) ионно-лучевым напылением [7].…”
Section: объекты и методы исследованияunclassified
“…1 и в табл. 1, показали следующее: в пленке Al 0.73 Si 0.27 , сформированной магнетронным напылением, так же как и ранее в работе [2], обнаруживаются рефлексы кристаллических фаз алюминия и кремния (кривая 3 на рис. 1).…”
Section: результаты и их обсуждениеunclassified
See 3 more Smart Citations