2017
DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2016.05.025
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Semipolar AlN and GaN on Si(100): HVPE technology and layer properties

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1
1

Citation Types

0
4
0
11

Year Published

2017
2017
2022
2022

Publication Types

Select...
7
1

Relationship

0
8

Authors

Journals

citations
Cited by 27 publications
(15 citation statements)
references
References 19 publications
0
4
0
11
Order By: Relevance
“…Due to anisotropic etching rate for different crystallographic directions the Si(111) plane can be exposed and the GaN(10–11) layer can be grown afterwards. Lately it was proposed to use preliminary deposited intermediate SiC layer for growing the semipolar GaN(20–23) layers on misoriented Si(100) substrates by both MOCVD and HVPE …”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
“…Due to anisotropic etching rate for different crystallographic directions the Si(111) plane can be exposed and the GaN(10–11) layer can be grown afterwards. Lately it was proposed to use preliminary deposited intermediate SiC layer for growing the semipolar GaN(20–23) layers on misoriented Si(100) substrates by both MOCVD and HVPE …”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
“…В настоящее время предпринимаются попытки синтезировать полуполярный GaN в основном на подложках из сапфира [1], SiC [2] и кремния [3,4]. Синтез полуполярного GaN осуществляется как на подложках Si(11h) (где h = 2−7) [1,5], так и на разориентированных подложках Si(100) [6,7], а также с использованием буферных слоев 3C-SiC [8,9]. В работах [10][11][12] для синтеза полупо-…”
Section: поступило в редакцию 19 февраля 2018 гunclassified
“…Ранее в [14,15] уже была показана возможность осаждения эпитаксиальных полуполярных слоев AlN на гибридные подложки SiC/Si (100). В настоящей работе в отличие от исследований [14,15] Таким образом, нам удалось обнаружить принципиальное различие в процессах роста на подложке Si и подложке SiC/Si.…”
unclassified
“…Ранее в [14,15] уже была показана возможность осаждения эпитаксиальных полуполярных слоев AlN на гибридные подложки SiC/Si (100). В настоящей работе в отличие от исследований [14,15] Таким образом, нам удалось обнаружить принципиальное различие в процессах роста на подложке Si и подложке SiC/Si. Это различие, связанное и с химической природой слоев, и с разницей параметров их решеток, приводит к существованию критического значения толщины полуполярного слоя AlN на Si, которое примерно равно 7.5 µm, различию в значениях знака упругих напряжений в слоях AlN, а также к тому, что при росте на Si слой AlN растянут, а при росте на SiC/Si слой сжат.…”
unclassified