Röntgenographische Spannungsanalyse in einzelnen Kristalliten – Mess‐ und Auswerteroutinen sowie Einflussgrößen

Abstract

È he Herrn Prof. Dr. mont. habil. Hermann Mu È ller zur Vollendung seines 65. Lebensjahres gewidmet Fu Èr die ro Èntgenographische Spannungsanalyse innerhalb einzelner Kristalle von grobko Èrnigen Werkstoffen kann das Einkristallverfahren eingesetzt werden. In dieser Arbeit werden sowohl die theoretischen Grundlagen als auch Messalgorithmen fu Èr dieses Verfahren pra Èsentiert. An einem Kristallit einer Eisen-Silizium-Modellegierung wurden Eigenspannungsmessungen mit verschiedenen Wellenla Èngen und an verschiedenen Gitterebenen durchgefu Èhrt. Es wird gezeigt, dass Mo-Ka-Strahlung fu Èr ro Èntgenographische Spannungsanalysen in einzelnen Ko Èrnern des untersuchten Werkstoffzustandes sehr gut geeignet ist. Schlagworte: Eigenspannung, Spannungsanalyse, EinkristallThe X-ray stress analysis in single grains of a coarse grained material can be performed by using the single crystal method. In this work theoretical basics and measuring algorithms for the single crystal method are presented. Test measurements on an iron-silicon alloy were carried out for different wave lengths and for different lattice planes. It is demonstrated that the Mo-Ka radiation is well suited for the X-ray stress analysis in single grains of the material investigated.