2012
DOI: 10.4186/ej.2012.16.1.37
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Review on Micro- and Nanolithography Techniques and their Applications

Abstract: Abstract. This article reviews major micro-and nanolithography techniques and their applications from commercial micro devices to emerging applications in nanoscale science and engineering. Micro-and nanolithography has been the key technology in manufacturing of integrated circuits and microchips in the semiconductor industry. Such a technology is also sparking revolutionizing advancements in nanotechnology. The lithography techniques including photolithography, electron beam lithography, focused ion beam lit… Show more

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“…Carreteiro y colaboradores reportan la espectroscopia como una técnica que da apoyo a la nanometrología química para: "determinar cuantitativamente la concentración de sustancias químicas presentes en las superficies de los materiales" [12]. Pimpin y Srituravanich reportan el uso de dispositivos nano para la medición de "especies gaseosas en el ambiente" a través de sensores [23].…”
Section: Industrias Potencialesunclassified
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“…Carreteiro y colaboradores reportan la espectroscopia como una técnica que da apoyo a la nanometrología química para: "determinar cuantitativamente la concentración de sustancias químicas presentes en las superficies de los materiales" [12]. Pimpin y Srituravanich reportan el uso de dispositivos nano para la medición de "especies gaseosas en el ambiente" a través de sensores [23].…”
Section: Industrias Potencialesunclassified
“…Entre las herramientas utilizadas para evaluar las especificaciones de calidad se encuentra la elipsometría (metrología óptica), la cual utiliza luz polarizada para caracterizar el espesor de películas delgadas y sus propiedades, además monitorea dimensiones críticas, así como medidas precisas de la difracción de la nanoestructura, lo cual permite construir un perfil del objeto medido y caracterizar nanomateriales a través de la electrónica moderna [23][24].…”
Section: Herramientas Para El Aseguramiento Metrológicounclassified
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“…Normally undesired effects of sample modification during measurements can be used advantageously for several applications. For example, electron beams are widely applied for lithography [22], while intensive ion beams in FIB are effectively used for microand submicrometer-machining or even for material deposition [23]. FIB usually operates with heavy Ga + ions which makes FIB imaging damaging, but effective for massive material removal.…”
Section: Motivationmentioning
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