Quasi-Optimal Correlation Algorithm for Measuring the Parameters of Surface Microrelief

Abstract

Proposed a method for measuring parameters of micro-surface machine parts optoelectronic and computer facilities, based on the computation of two-dimensional settings of the autocorrelation function, based on the binary image of the investigated microrelief using kvazioptimalnogo correlation algorithm. Found to be the most informative characterization of the studied surfaces, micro precision components reliably distinguished from each other with a given probability, is the average amplitude of the variable component of the autocorrelation function. Shows the results of determining the parameters of microrelief surface of runner blade GTM using quasi-optimal correlation algorithms.

The profile physical coefficient and its application for modelling the machined surface texture

“…В конструкторско-технологической практике на предприятиях машиностроительного сектора применяется весьма ограниченный перечень параметров [1][2][3]. В основном используются параметры групп R и W [4; 5], в частности параметры Ra, Rz и т. п. При этом среди мало задействованных в практике параметров одним из перспективных является Ra.…”

“…В литературе практически отсутствуют параметры из новых стандартов или специфические параметры для описания поверхности после хонингования из менее современных стандартов DIN 1980-х годов. В последние годы активно развиваются альтернативные способы получения параметров, например новые алгоритмы корреляции параметров отраженного луча от микрорельефа [1]. Данные методы развивают для обнаружения все тех же стандартных параметров типа Ra [2].…”

The profile physical coefficient and its application for modelling the machined surface texture

“…В конструкторско-технологической практике на предприятиях машиностроительного сектора применяется весьма ограниченный перечень параметров [1][2][3]. В основном используются параметры групп R и W [4; 5], в частности параметры Ra, Rz и т. п. При этом среди мало задействованных в практике параметров одним из перспективных является Ra.…”

“…В литературе практически отсутствуют параметры из новых стандартов или специфические параметры для описания поверхности после хонингования из менее современных стандартов DIN 1980-х годов. В последние годы активно развиваются альтернативные способы получения параметров, например новые алгоритмы корреляции параметров отраженного луча от микрорельефа [1]. Данные методы развивают для обнаружения все тех же стандартных параметров типа Ra [2].…”

The profile physical coefficient and its application for modelling the machined surface texture

“…В конструкторско-технологической практике на предприятиях машиностроительного сектора применяется весьма ограниченный перечень параметров [1][2][3]. В основном используются параметры групп R и W [4; 5], в частности параметры Ra, Rz и т. п. При этом среди мало задействованных в практике параметров одним из перспективных является Ra.…”

“…В литературе практически отсутствуют параметры из новых стандартов или специфические параметры для описания поверхности после хонингования из менее современных стандартов DIN 1980-х годов. В последние годы активно развиваются альтернативные способы получения параметров, например новые алгоритмы корреляции параметров отраженного луча от микрорельефа [1]. Данные методы развивают для обнаружения все тех же стандартных параметров типа Ra [2].…”

The profile physical coefficient and its application for modelling the machined surface texture

“…В конструкторско-технологической практике на предприятиях машиностроительного сектора применяется весьма ограниченный перечень параметров [1][2][3]. В основном используются параметры групп R и W [4; 5], в частности параметры Ra, Rz и т. п. При этом среди мало задействованных в практике параметров одним из перспективных является Ra.…”

“…В литературе практически отсутствуют параметры из новых стандартов или специфические параметры для описания поверхности после хонингования из менее современных стандартов DIN 1980-х годов. В последние годы активно развиваются альтернативные способы получения параметров, например новые алгоритмы корреляции параметров отраженного луча от микрорельефа [1]. Данные методы развивают для обнаружения все тех же стандартных параметров типа Ra [2].…”