2019
DOI: 10.4028/www.scientific.net/kem.822.725
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Quasi-Optimal Correlation Algorithm for Measuring the Parameters of Surface Microrelief

Abstract: Proposed a method for measuring parameters of micro-surface machine parts optoelectronic and computer facilities, based on the computation of two-dimensional settings of the autocorrelation function, based on the binary image of the investigated microrelief using kvazioptimalnogo correlation algorithm. Found to be the most informative characterization of the studied surfaces, micro precision components reliably distinguished from each other with a given probability, is the average amplitude of the variable com… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2

Citation Types

0
0
0

Year Published

2023
2023
2024
2024

Publication Types

Select...
2

Relationship

0
2

Authors

Journals

citations
Cited by 2 publications
(2 citation statements)
references
References 29 publications
0
0
0
Order By: Relevance
“…В конструкторско-технологической практике на предприятиях машиностроительного сектора применяется весьма ограниченный перечень параметров [1][2][3]. В основном используются параметры групп R и W [4; 5], в частности параметры Ra, Rz и т. п. При этом среди мало задействованных в практике параметров одним из перспективных является Ra.…”
Section: Introductionunclassified
See 1 more Smart Citation
“…В конструкторско-технологической практике на предприятиях машиностроительного сектора применяется весьма ограниченный перечень параметров [1][2][3]. В основном используются параметры групп R и W [4; 5], в частности параметры Ra, Rz и т. п. При этом среди мало задействованных в практике параметров одним из перспективных является Ra.…”
Section: Introductionunclassified
“…В литературе практически отсутствуют параметры из новых стандартов или специфические параметры для описания поверхности после хонингования из менее современных стандартов DIN 1980-х годов. В последние годы активно развиваются альтернативные способы получения параметров, например новые алгоритмы корреляции параметров отраженного луча от микрорельефа [1]. Данные методы развивают для обнаружения все тех же стандартных параметров типа Ra [2].…”
Section: Introductionunclassified