The electronic structure and binding energy of the antisite defects GaA, and AsGa in Si-AlAs/GaAs modulation-doped superlattices are calculated with use of the developed recursion technique. A detailed comparison between the antisites and impurities in the multilayer systems is presented based on the discussion of the local density of states and the electronic occupation possibilities on each defect site. The results are used to explain recent experiments.Die Elektronenstruktur und Bindungsenergie der Antiplatzdefekte GaA, und AS, , in modulationsdotierten Si-A1 As/GaAs-Supergittern werden mittels einer dazu entwickelten Rekursionsmethode berechnet. Ein ausfiihrlicher Vergleich zwischen den Antiplatzdefekten und Verunreinigungsstorstellen in dem Vielschichtsystem wird beziiglich der Diskussion der lokalen Zustandsdichte und der elektronischen Besetzungsmoglichkeiten aller Defektplatze durchgefiihrt. Die Ergebnisse werden benutzt, um neuere Experimente zu erklaren.