Hole resonances are studied in 3900 SZcm p-type Si samples a t temperatures from 1.2 to 5.0 OK. Measurements are performed a t 45 GHz using magnetic inductions B up to 10 kG corresponding to a maximum value of m*/rn, = 0.62, and a few resonances not reported previously are observed. The experimental data are in reasonably good agreement with the Luttinger theory [l] of Landau levels in the valence band of semiconductors when a suitable set of band parameters are chosen. Numerical calculations of the levels and the matrix elements for transitions between the levels are carried out for B pointing in the crystallographic directions [001], [ l l l ] and [110]. The variation of the level positions and of t,he matrix elements as a function of the band parameters is examined in order to find the parameters providing the best fit to the experimental data. Locher-Resonanzen in p-Ieitendem 3900 Rcm Si sind bei Temperaturen von 1.2 bis 5.0 "K untersucht worden. Die Messungen wurden bei 45 GHz bei magnetischen Induktionen B bis zu 10 kG entsprechend einem Maximalwert von m*/rn, = 0.62 durchgefiihrt. Einige Resonanzen, von denen bisher nicht berichtet worden ist, sind beobachtet worden. Die experimentellen Daten stimmen recht gut mit der Lut'tinger-Theorie [l] der Landau-Niveaus im Valenzband von Halbleitern iiberein, wenn ein passender Satz Band-Parameter gewahlt wird. n'umerische Berechnungen der Niveaus und der Matrixelemente fur obergange zwischen den Kiveaus sind fur B in den kristallographischen Richtungen [001], [111] und [110] durchgefiihrt worden. Die Anderungen der Kiveaus und der Matrixelemente als Funktion der Bandparameter sind untersucht worden, um die Parameter zu ermitteln, die mit den experimentellen Daten die beste Ubereinstimmnng ergeben.14*