1997
DOI: 10.4028/www.scientific.net/msf.248-249.253
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Pulsed Electron Beam Annealing of GaAs after High Dose Implantation of Hydrogen

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1

Citation Types

0
0
0
1

Year Published

2017
2017
2017
2017

Publication Types

Select...
2

Relationship

0
2

Authors

Journals

citations
Cited by 2 publications
(1 citation statement)
references
References 0 publications
0
0
0
1
Order By: Relevance
“…Для исходного и имплантированного образцов она составляла 0.6 нм, а для имплантированного и подвергнутого ВЧ-обработ-ке -0.9 нм. В отличие от результатов [16], где было показано, что электронно-лучевая обработка исходных и имплантированных ионами водорода образцов неле-гированного GaAs вызывала образование особенностей рельефа размером 10 мкм и больше, использованные нами обработки никак не могут повлиять на изменение отражения GaAs в ИК-области спектра.…”
Section: рисunclassified
“…Для исходного и имплантированного образцов она составляла 0.6 нм, а для имплантированного и подвергнутого ВЧ-обработ-ке -0.9 нм. В отличие от результатов [16], где было показано, что электронно-лучевая обработка исходных и имплантированных ионами водорода образцов неле-гированного GaAs вызывала образование особенностей рельефа размером 10 мкм и больше, использованные нами обработки никак не могут повлиять на изменение отражения GaAs в ИК-области спектра.…”
Section: рисunclassified