2015
DOI: 10.1016/j.orgel.2014.11.006
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Poly(9-vinylcarbazole)–graphene oxide composite field-effect transistors with enhanced mobility

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
4
1

Citation Types

0
10
0
6

Year Published

2015
2015
2022
2022

Publication Types

Select...
8

Relationship

0
8

Authors

Journals

citations
Cited by 36 publications
(16 citation statements)
references
References 29 publications
0
10
0
6
Order By: Relevance
“…С учетом табличных значений чувствительности регистрации XPS сигнала [21] при регистрации максимумов C 1s и S 2p при-мерное отношение концентраций атомов C и S без пред-варительной обработки поверхности образца составило 10 : 1. Как было показано ранее [10,20,24,25], следует считать, что при приготовлении органических пленок ex situ ∼ 10−20% измеряемой интенсивности C 1s мак-симума также обусловлено поверхностно адсорбирован-ными примесями. Таким образом, за вычетом влияния поверхностно адсорбированных атомов C измеренное соотношение атомных концентраций атомов С и S в составе слоя LB−D2−Und−4T−Hex можно оценить как 8 : 1.…”
Section: результаты и обсуждениеunclassified
See 1 more Smart Citation
“…С учетом табличных значений чувствительности регистрации XPS сигнала [21] при регистрации максимумов C 1s и S 2p при-мерное отношение концентраций атомов C и S без пред-варительной обработки поверхности образца составило 10 : 1. Как было показано ранее [10,20,24,25], следует считать, что при приготовлении органических пленок ex situ ∼ 10−20% измеряемой интенсивности C 1s мак-симума также обусловлено поверхностно адсорбирован-ными примесями. Таким образом, за вычетом влияния поверхностно адсорбированных атомов C измеренное соотношение атомных концентраций атомов С и S в составе слоя LB−D2−Und−4T−Hex можно оценить как 8 : 1.…”
Section: результаты и обсуждениеunclassified
“…Образцы таких устройств на основе силоксано-вого димера кватертиофена продемонстрировали долго-временную стабильность и воспроизводимость электро-физических характеристик в атмосферных лабораторных условиях. Подвижность носителей заряда дырочного ти-па достигала в них 3 · 10 −3 cm 2 /(V · s), что не уступает аналогичным характеристикам ОПТ на основе неупоря-доченных тонкопленочных органических и композитных материалов [7][8][9][10]. В сопряженных органических мате-риалах возможно достичь и на 1−2 порядка больших значений подвижности носителей заряда, однако это в большей степени относится к материалам, термически осажденным в вакууме и демонстрирующим кристал-лическую упорядоченность [11].…”
Section: Introductionunclassified
“…Органические полевые транзисторы (OFET) на основе определенных видов кристаллов ТФСО де-монстрировали значения подвижности носителей заряда 7 · 10 −2 −9 · 10 −2 cm 2 /(V · s) [10]. Это является доста-точно высоким значением OFET-подвижности для од-нокомпонентных органических материалов, однако при использовании гибридных органических/неорганических материалов возможно достижение значений OFET-под-вижности порядка 1 cm 2 /(V · s) [12][13][14]. В результате исследований тонких и сверхтонких (десятки-сотни нанометров) пленок ТФСО, сформи-рованных путем термического вакуумного осаждения, была также показана перспективность в плане разра-ботки OLED устройств, продемонстрированы диодные характеристики при использовании чередующихся сло-ев ТФСО n-и p-типа проводимости [6,7].…”
Section: Introductionunclassified
“…The surface science techniques were used successfully to characterize the energy level alignment and the density of the electronic states at organic film interfaces with metal and semiconductor surfaces [6,7]. The electronic properties of the surface organic layers can be tuned by means of the influence of the substrate material [2,6,7], by forming hybrid materials [1,3,8] or by introducing polar substituents into the molecules [9,10]. The molecule substitution by electron withdrawing groups would typically provide a stabilization of the energy positions of the edges of the forbidden energy gap and to narrowing of the bandgap [9,10,11].…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%