“…С учетом табличных значений чувствительности регистрации XPS сигнала [21] при регистрации максимумов C 1s и S 2p при-мерное отношение концентраций атомов C и S без пред-варительной обработки поверхности образца составило 10 : 1. Как было показано ранее [10,20,24,25], следует считать, что при приготовлении органических пленок ex situ ∼ 10−20% измеряемой интенсивности C 1s мак-симума также обусловлено поверхностно адсорбирован-ными примесями. Таким образом, за вычетом влияния поверхностно адсорбированных атомов C измеренное соотношение атомных концентраций атомов С и S в составе слоя LB−D2−Und−4T−Hex можно оценить как 8 : 1.…”