2015
DOI: 10.15199/48.2015.09.55
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Parametry tranzystorów GaN HEMT - wyniki I etapu projektu PolHEMT

Abstract: jest opracowanie nowego typu tranzystora mikrofalowego na pasmo S z wykorzystaniem struktur AlGaN/GaN hodowanych na podłożach z półizolacyjnego monokrystalicznego GaN wytwarzanych metodą ammonotermalną (Ammono). Referat stanowi krótkie podsumowanie pierwszego etapu projektu w formie zestawienia parametrów elektrycznych struktur GaN PolHEMT i komercyjnych tranzystorów GaN HEMT produkowanych przez wiodące firmy.

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...

Citation Types

0
0
0

Publication Types

Select...

Relationship

0
0

Authors

Journals

citations
Cited by 0 publications
references
References 2 publications
0
0
0
Order By: Relevance

No citations

Set email alert for when this publication receives citations?