Parallel Loopback Test of Mixed-Signal Circuits

Park, Joon Sung; Shin, Hong-Sik; Abraham, Jacob A.

doi:10.1109/vts.2008.53

Cited by 18 publications

(3 citation statements)

References 20 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Unclassified

Order By: Relevance

“…In addition, it is assumed that the digital-to-analog converters (DACs) and analog-to-digital converters (ADCs) used for data acquisition are calibrated prior to their in the tuning of the relevant RF devices. Methods for loopback testing of DACs and ADCs are described in [20].…”

Section: Prior Workmentioning

confidence: 99%

DSP-Driven Self-Tuning of RF Circuits for Process-Induced Performance Variability

Han

Kim

Chatterjee

2010

IEEE Trans. VLSI Syst.

View full text Add to dashboard Cite

In the deep-submicrometer design regime, RF circuits are expected to be increasingly susceptible to process variations, and thereby suffer from significant loss of parametric yield. To address this problem, a postmanufacture self-tuning technique that aims to compensate for multiparameter variations is presented. The proposed method incorporates a "response feature" detector and "hardware tuning knobs," designed into the RF circuit. The RF device test response to a specially crafted diagnostic test stimulus is logged via the built-in detector and embedded analog-to-digital converter. Analysis and prediction of the optimal tuning knob control values for performance compensation is performed using software running on the baseband DSP processor. As a result, the RF circuit performance can be diagnosed and tuned with minimal assistance from external test equipment. Multiple RF performance parameters can be adjusted simultaneously under tuning knob control. The proposed concepts are illustrated for an RF lownoise amplifier (LNA) design and can be applied to other RF circuits as well. A simulation case study and hardware measurements on a fabricated 1.9-GHz LNAs show significant parametric yield enhancement (up to 58%) across the critical RF performance specifications of interest.

show abstract

Section: Prior Workmentioning

confidence: 99%

DSP-Driven Self-Tuning of RF Circuits for Process-Induced Performance Variability

Han

Kim

Chatterjee

2010

IEEE Trans. VLSI Syst.

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

“…However, if parallel testing of multiple component-pairs is desirable, multiple loopback elements, one for each of the component-pair, would be needed on the load board. The loopback elements for parallel loopback testing could be minimized by including an analog summer and an RMS detector which are shared by multiple component-pairs 111) . By analyzing the test responses at the outputs of these shared elements with respect to different test stimuli, the performance of an individual data converter can be derived.…”

Section: Loopback Testingmentioning

confidence: 99%

Recent Advances in Analog, Mixed-Signal, and RF Testing

Cheng

Chang

2010

IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology

View full text Add to dashboard Cite

Due to the lack of widely applicable fault models, testing for analog, mixedsignal (AMS), and radio frequency (RF) circuits has been, and will continue to be, primarily based on checking their conformance to the specifications. However, with the higher level of integration and increased diversity of specifications for measurement, specification-based testing is becoming increasingly difficult and costly. As a result, design for testability (DfT), combined with automatic test stimuli generation, has gradually become a necessity to ensure test quality at an affordable cost. This paper provides an overview of cost-effective test techniques that either enhance circuit testability, or enable built-in self-test (BIST) for integrated AMS/RF frontends. In addition, we introduce several low-cost testing paradigms including the loopback testing, alternate testing, and digitally-assisted testing that offer the promise of significant test cost reduction with little or even no compromise in test quality. Moving forward, in addition to screening the defective parts, testing will play an increasingly important role in supporting other post-silicon quality assurance functions such as post-silicon validation, tuning, and in-field reliability of system chips.

show abstract

“…Θα πρέπει να σημειωθεί πως, τόσο ο έλεγχος, όσο και η βαθμονόμηση του ενσωματωμένου ADC θα πρέπει να έχει προηγηθεί της χρήσης του για τον έλεγχο του μίκτη, πράγμα που ισχύει και για το κύκλωμα του ενσωματωμένου DSP. Μέθοδοι για τον έλεγχο των ADCs με την τεχνική του βρόχου επιστροφής (loopback) έχουν ήδη προταθεί στη βιβλιογραφία[147]. Επιπλέον, το κύκλωμα του DSP μπορεί να ελεγχθεί μέσω ψηφιακών τεχνικών ελέγχου προκειμένου να επιβεβαιωθεί η ορθή λειτουργία του.…”

unclassified

Τεχνικές Ελέγχου Ορθής Λειτουργίας Και Διόρθωσης Επιδόσεων Τηλεπικοινωνιακών Ολοκληρωμένων Κυκλωμάτων Υψηλών Συχνοτήτων

Liaperdos¹,

Λιαπέρδος²

View full text Add to dashboard Cite

Στη διατριβή αυτή παρουσιάζονται τεχνικές ελέγχου ορθής λειτουργίας και διόρθωσης επιδόσεων κατάλληλες για αναλογικά ολοκληρωμένα κυκλώματα RF.Συγκεκριμένα στοιχεία που έχουν επίδραση στις επιδόσεις των κυκλωμάτων σχεδιάζονται ώστε να μπορούν να ρυθμίζονται ψηφιακά, παρέχοντας τη δυνατότητα μεταβολής των επιδόσεων γύρω από τις τιμές που αυτές εμφανίζουν αμέσως μετά τη διαδικασία κατασκευής, μέσω ενός συνόλου διακριτών καταστάσεων λειτουργίας. Ένα σύνολο βέλτιστα επιλεγμένων παρατηρήσιμων μεγεθών χρησιμοποιείται για την ανάπτυξη μοντέλων πρόγνωσης των χαρακτηριστικών επίδοσης σε κάθε κατάσταση λειτουργίας. Στη φάση του ελέγχου, λαμβάνονται μετρήσεις από ένα υποσύνολο των καταστάσεων του κυκλώματος. Η επεξεργασία των παρατηρήσιμων μεγεθών ελέγχου επιτρέπει την ανίχνευση ελαττωμάτων με την αξιοποίηση ενός διευρυμένου υπερσυνόλου των παρατηρήσιμων μεγεθών. Επιπλέον, οι προγνώσεις των επιδόσεων χρησιμοποιούνται για την εξέταση της συμμόρφωσης του κυκλώματος προς τις προδιαγραφές, καθώς και για τη διόρθωση της συμπεριφοράς του, με την εξαναγκασμένη μετάπτωσή του στην κατάσταση στην οποία όλα τα χαρακτηριστικά επίδοσης αποκαθίστανται σε αποδεκτές τιμές. Προκειμένου να αντιμετωπισθεί το πρόβλημα της προσβασιμότητας στα παρατηρήσιμα μεγέθη ελέγχου, προτείνεται ενσωματωμένη τεχνική συλλογής μετρήσεων συνεχών τάσεων, οι οποίες χρησιμεύουν στη διόρθωση των επιδόσεων μικτών RF. Οι μετρήσεις πραγματοποιούνται με τη βοήθεια ενός μετατροπέα αναλογικού σε ψηφιακό, ο οποίος αποτελείται από ταλαντωτή δακτυλίου και απαριθμητή. Προτείνεται, επιπλέον, μέθοδος για την ελαχιστοποίηση της αβεβαιότητας που υπεισέρχεται στο ίδιο το σύστημα μέτρησης, εξαιτίας κατασκευαστικών διακυμάνσεων και ανομοιομορφιών των διατάξεων.Διερευνάται, επίσης, η εφαρμογή αλγορίθμων επιλογής με σκοπό την μείωση του αριθμού των παρατηρήσιμων μεγεθών που απαιτούνται για τη διατήρηση ανεκτής ακρίβειας εναλλακτικού ελέγχου, μέσω μιας διαδικασίας βελτιστοποίησης η οποία οδηγεί σε μείωση του κόστους ελέγχου με τον περιορισμό της πολυπλοκότητας και της χρονικής διάρκειας διεξαγωγής του.Η αποδοτικότητα των προτεινόμενων μεθόδων επιβεβαιώνεται με την εφαρμογή τους στις διαδικασίες ελέγχου ορθής λειτουργίας και διόρθωσης των επιδόσεων ενός τυπικού μίκτη RF τεχνολογίας 0.18μm CMOS, από τον οποίο λαμβάνονται αποτελέσματα προσομοιώσεων που αξιολογούνται και συγκρίνονται με αντίστοιχες συμβατικές τεχνικές.

show abstract

Parallel Loopback Test of Mixed-Signal Circuits

Cited by 18 publications

References 20 publications

DSP-Driven Self-Tuning of RF Circuits for Process-Induced Performance Variability

DSP-Driven Self-Tuning of RF Circuits for Process-Induced Performance Variability

Recent Advances in Analog, Mixed-Signal, and RF Testing

Τεχνικές Ελέγχου Ορθής Λειτουργίας Και Διόρθωσης Επιδόσεων Τηλεπικοινωνιακών Ολοκληρωμένων Κυκλωμάτων Υψηλών Συχνοτήτων

Contact Info

Product

Resources

About