Optimum Times for Step-Stress Cumulative Exposure Model Using Log-Logistic Distribution with Known Scale Parameter

Abstract

In this paper we assume that the life time of a test unit follows a log-logistic distribution with known scale parameter. Tables of optimum times of changing stress level for simple step-stress plans under a cumulative exposure model are obtained by minimizing the asymptotic variance of the maximum likelihood estimator of the model parameters at the design stress with respect to the change time.Zusammenfassung: In diesem Aufsatz wird angenommen, dass die Lebensdauer einer Testeinheit einer log-logistischen Verteilung mit bekanntem Skalenparameter genügt. Tabellen für die optimalen Zeitpunkte eines Wechsels des Belastungsniveaus für einfache step-stress Pläne unter einem kumulativen Expositionsmodells erhält man durch Minimieren der asymptotischen Varianz des Maximum Likelihood Schätzers der Modellparameter zur zulässigen Spannung bezüglich der Wechselzeit.

Novel Accelerating Life Test Method and Its Application by Combining Constant Stress and Progressive Stress

“…Accelerated life tests (ALTs) can yield life information of a product in a short time [1][2][3]. Constant stress accelerated life tests (CSALTs) have the advantages of theory maturity and high statistical precision, but they require many samples and a long test time.…”