An Reinstaluminium (99,99% Al) mit einer mittleren Korngröße von 0,35 mm wurde die Gleitbandausbildung in den oberflächennahen Kristalliten untersucht. Dabei wurde der Einfluß der Schubspannungen in den einzelnen Gleitsystemen auf die Reihenfolge ihrer Betätigung, die Orientierungsabhängigkeit der Mehrfachgleitprozesse und das Auftreten von Gleitbandübergängen über die Korngrenzen näher verfolgt. Die Gleitbandübergänge sind nicht an bestimmte Orientierungsbeziehungen zwischen den Nachbarkristalliten gebunden und können durch Versetzungsaufstauungen an den Korngrenzen erklärt werden. Durch direkte elektronenmikroskopische Beobachtungen und indirekte Untersuchungsmethoden wird gezeigt, daß lichtmikroskopisch ermittelte Nichtoktaedergleitbänder aus eng begrenzten Oktaedergleitlinien bestehen können.