Nanometrology in Emerging Economies: The Case of Mexico

Lazos-Martínez, Ruben J.; González-Rojano, Norma

doi:10.1007/s12647-013-0083-8

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“…Algunas de las razones por las cuales este proceso ha sido tan lento está relacionado con las dificultades y limitantes que enfrenta la investigación para generar información y datos confiables para poder identificar, determinar, caracterizar a las NPs, NMs, etc., así como para poder medir, evaluar y analizar los riesgos que estas tecnologías y sus derivados pueden tener sobre el ambiente, salud y seguridad. Todo esto está asociado con la limitada cantidad de recursos que se asignan para solventar estas barreras (RS yRAE, 2004;Klaine et al, 2012;Lazos y González, 2013).…”

Section: Conclusionesunclassified

Regulación blanda, normas técnicas y armonización regulatoria internacional, para la nanotecnología

Tanaka

2019

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El presente artículo revisa algunos de los textos más relevantes que argumentan y opinan sobre las distintas formas voluntarias para vigilar la nanotecnología, conocidas en conjunto como regulación blanda. Así, se expone brevemente en qué consisten sus seis tipos más comunes (registros, etiquetado, códigos de conducta, sistemas de manejo de riesgo, guías y estándares técnicos) y se ejemplifica, dando especial atención a las normas técnicas. Se revisan, asimismo, los principales órganos de estandarización en materia de NT profundizando en el trabajo del Comité Técnico en Nanotecnología de la Organización Internacional de Estandarización, el ISO/TC-229. Posteriormente, se argumenta sobre la importancia de la armonización normativa en esta materia y en el trabajo del Working Programme on Manufacture Nanomaterials (WPMN) de la Organización para la Cooperación y el Desarrollo Económico (OCDE) y, finalmente, se revisa la discusión en torno a qué tipo de regulación es la deseable cuando se busca la gobernanza de una tecnología de relativa novedad y con diversidad de aplicaciones y productos.

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Section: Conclusionesunclassified

Regulación blanda, normas técnicas y armonización regulatoria internacional, para la nanotecnología

Tanaka

2019

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“…This infrastructure is aimed to link practical measurements made in manufacturing industries to the international system of units (SI), embodied in the Mexican national measurement standards, through a hierarchy of measurement standards, traceable to internationally recognized measurement standards and SI units at the end. The infrastructure ensures that measurements can be made on a consistent basis throughout the country and in-line with international measurement practices [5]. The great challenge for a reliable production is to develop the capability to reliably and reproducibly image and measure any nanostructure for any relevant property with atomic accuracy in three dimensions.…”

Section: Challenges For Nanoscale Metrologymentioning

confidence: 99%

Advancing technology in Mexico – challenges for nanometrology

González-Rojano¹,

Lazos-Martínez²,

Nava-Jaimes³

et al. 2015

Mechanik

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Products based on nanostructured materials are already present in our daily lives and have gradually become more important in Mexico. Nanomaterials can be found in many applications, such as catalytic processes, automotive parts, coatings, electronics, etc. The diversity and complexity of manufactured nanomaterials are continuously increasing as well as their use in industrial process and consumer products. It has been long recognized that nanostructured materials can have significantly different properties when compared to their larger scale counterparts. Measurements are essential to have a complete understanding of any new phenomenon or process in the nanoscale. There are numerous properties and quantities to be measured in the nanomaterials used in industrial processes and the establishment of metrological traceability to the SI units is a challenge to deal with. Techniques, methods, measurement standards and infrastructure development are needed to control manufacturing and production, to ensure product quality and enable different elements to work effectively together. This paper describes issues and challenges in metrology to be faced in Mexico concerning nanotechnology.

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