2018
DOI: 10.1007/978-3-319-72929-9_2
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Modeling and Simulation of Tapping Mode Atomic Force Microscope Through a Bond-Graph

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
3
1
1

Citation Types

0
10
0
1

Year Published

2018
2018
2021
2021

Publication Types

Select...
4
2
2
1

Relationship

3
6

Authors

Journals

citations
Cited by 16 publications
(11 citation statements)
references
References 9 publications
0
10
0
1
Order By: Relevance
“…Mokslinėje praktikoje yra žinomi ir seniai naudojami įvairūs metodai skirti teoriškai nustatyti dinaminės sistemos savybes, tačiau nepaisant daugelio atliktų AFM jutiklio mechaninės struktūros tyrimų, AFM jutiklio dinaminių charakteristikų tyrimas vis dar išlieka aktualus. Literatūroje dažniausiai yra pateikiami modeliai (Song, Bhushan 2008, Chang et al 2005, Caruntu 2009, Kim et al 2012, Raman et al 2008, Moosapour et al 2012, Salgar, Srinivas 2012, Bahrami, Abeygunawardana 2018, Coskun et al 2018, kuriuose svirtelė yra aproksimuojama tampriais elementais ir aprašoma lygtimis su dalinėmis išvestinėmis. Šie modeliai dažniausiai būna vieno ar dviejų laisvės laipsnių, juose pateikiami sunkiai realizuojami sprendiniai arba taikomos hipotezės, kurios veikia labai specifinėmis sąlygomis arba reikalauja papildomų eksperimentinių tyrimų.…”
Section: Atominių Jėgų Mikroskopo Jutiklio Tikslumo Teorinių Tyrimų Metodikaunclassified
“…Mokslinėje praktikoje yra žinomi ir seniai naudojami įvairūs metodai skirti teoriškai nustatyti dinaminės sistemos savybes, tačiau nepaisant daugelio atliktų AFM jutiklio mechaninės struktūros tyrimų, AFM jutiklio dinaminių charakteristikų tyrimas vis dar išlieka aktualus. Literatūroje dažniausiai yra pateikiami modeliai (Song, Bhushan 2008, Chang et al 2005, Caruntu 2009, Kim et al 2012, Raman et al 2008, Moosapour et al 2012, Salgar, Srinivas 2012, Bahrami, Abeygunawardana 2018, Coskun et al 2018, kuriuose svirtelė yra aproksimuojama tampriais elementais ir aprašoma lygtimis su dalinėmis išvestinėmis. Šie modeliai dažniausiai būna vieno ar dviejų laisvės laipsnių, juose pateikiami sunkiai realizuojami sprendiniai arba taikomos hipotezės, kurios veikia labai specifinėmis sąlygomis arba reikalauja papildomų eksperimentinių tyrimų.…”
Section: Atominių Jėgų Mikroskopo Jutiklio Tikslumo Teorinių Tyrimų Metodikaunclassified
“…The aim of this section is to give a general view of bond graphs. Bond graphs that provide a systematic way of describing physical systems and their corresponding dynamics are introduced by Karnopp [1], and extensions appear in [10][11][12][13][14][15][16][17][18][19].…”
Section: Modeling Through the Bond Graphmentioning
confidence: 99%
“…Different methods have been used to investigate the dynamic behavior of the cantilever in the different modes of operation [9][10][11][12][13]. In this article, to construct the mathematical model of the base excited AFM cantilever lumped parameter model is used and solved by the method of Multiple scales.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%