2020
DOI: 10.15517/iv.v22i40.42057
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Microscopía de fuerza atómica como herramienta en la investigación de asfaltos

Abstract: El Microscopio de Fuerza Atómica se utiliza ampliamente para la obtención de imágenes superficiales de alta resolución; así como para obtener información de las propiedades mecánicas de un material. Esta herramienta cuenta con diversos modos de operación, algunos de ellos son: estáticos, dinámicos, tapping y contacto, entre otros. De igual forma, posee diversas geometrías de la punta del cantilever, por lo que escoger la adecuada es un paso crucial en cualquier investigación que desee usar el AFM. El objetivo … Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2

Citation Types

0
0
0

Publication Types

Select...
1

Relationship

0
1

Authors

Journals

citations
Cited by 1 publication
(2 citation statements)
references
References 10 publications
(13 reference statements)
0
0
0
Order By: Relevance
“…Su funcionamiento corresponde a una pequeña punta de un par de micras de largo sujeta a una viga en voladizo (cantilever); esta realiza un barrido sobre la superficie de la muestra a ser evaluada, de forma que va tomando los datos para determinar las características topográficas y de fases. Con esa configuración, el voladizo detecta las fuerzas de interacción que se generan entre la punta y la superficie de la muestra; es decir, las fuerzas de van der Waals, electrostáticas y repulsiones electrónicas que surgen a distancias nanométricas [80].…”
Section: 11unclassified
See 1 more Smart Citation
“…Su funcionamiento corresponde a una pequeña punta de un par de micras de largo sujeta a una viga en voladizo (cantilever); esta realiza un barrido sobre la superficie de la muestra a ser evaluada, de forma que va tomando los datos para determinar las características topográficas y de fases. Con esa configuración, el voladizo detecta las fuerzas de interacción que se generan entre la punta y la superficie de la muestra; es decir, las fuerzas de van der Waals, electrostáticas y repulsiones electrónicas que surgen a distancias nanométricas [80].…”
Section: 11unclassified
“…Por tanto, se da una retroalimentación debida a la diferencia de señal relativa entre el fotodiodo por medio del control de un software; esto logra que la punta pueda trabajar manteniendo la altura o fuerza constante [80].…”
Section: 11unclassified