2019 International Conference on Industrial Engineering, Applications and Manufacturing (ICIEAM) 2019
DOI: 10.1109/icieam.2019.8742929
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Microcontroller Information-Measuring Systems on Bragg Gratings

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1

Citation Types

0
0
0
1

Year Published

2019
2019
2020
2020

Publication Types

Select...
5
1

Relationship

0
6

Authors

Journals

citations
Cited by 6 publications
(1 citation statement)
references
References 16 publications
0
0
0
1
Order By: Relevance
“…Анализируемый отраженный в волокне сигнал может основан на различных явлениях -бриллюэновское рассеяние, раманавское излучение, отражение на волоконных брэгговских решетках. В работах различных авторов исследуются возможности и преимущества указанных методов и пути повышения точности и информативности измерений [1][2][3][4][5][6][7][8].…”
Section: Doi: 1025206/2310-9793-7-2-266-270unclassified
“…Анализируемый отраженный в волокне сигнал может основан на различных явлениях -бриллюэновское рассеяние, раманавское излучение, отражение на волоконных брэгговских решетках. В работах различных авторов исследуются возможности и преимущества указанных методов и пути повышения точности и информативности измерений [1][2][3][4][5][6][7][8].…”
Section: Doi: 1025206/2310-9793-7-2-266-270unclassified