Measurement of Distributions of Local Internal Stress Near Grain Boundary in Sus316 by EXDM Using White X‐Ray Micro Beam

Synchrotron Radiation as Analytical Tools for Industrial Materials ～2. X-ray Diffraction and Scattering Experiments with Synchrotron Radiation～

“…の分散関係を測定する X 線非弾性散乱 (1) (2) ，メスバウアー 分光法に対応する核共鳴散乱 (3)(4) ，X 線ラマン散乱 (5) (6) ，コ ンプトン散乱 (7)(8) など散乱 X 線の光子エネルギーが入射 X 線のエネルギーと異なる非弾性散乱実験も含め，信号強度が 微弱な X 線磁気散乱 (9)(10) や，結晶粒界近傍の局所歪測定 (11) など高輝度な放射光の特徴を活用した多様な散乱・回折測定 が行われている．その一方で，実験室装置で馴染み深い粉末 X 線回折や小角散乱も活発に利用され，主要な工業材料評 技術としての地位はゆるぎない．このため，粉末 X 線回折 と小角散乱は測定の自動化 (12) (17) や時分割測定 (18)…”