2004
DOI: 10.1016/j.sigpro.2003.10.007
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Material grain noise analysis by using higher-order statistics

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“…A maximum entropy model of spectral analysis also had limited success (Hargreaves 1988). Miralles et al (2004) discuss the application of higher order statistics (HOS) for analyzing ultrasonic backscatter. Though the focus of the work is on classifying scatterer (or grain) sizes based on HOS, similar approaches may potentially be applied to improve SNR or characterize microstructure.…”
Section: Figure 43 Nominal and Faulted Gaussian Distributionsmentioning
confidence: 99%
“…A maximum entropy model of spectral analysis also had limited success (Hargreaves 1988). Miralles et al (2004) discuss the application of higher order statistics (HOS) for analyzing ultrasonic backscatter. Though the focus of the work is on classifying scatterer (or grain) sizes based on HOS, similar approaches may potentially be applied to improve SNR or characterize microstructure.…”
Section: Figure 43 Nominal and Faulted Gaussian Distributionsmentioning
confidence: 99%
“…Cumulants have been modelled in order to characterize propagation of ultrasound in materials [6]. Other HOS tools, like the bicepstrum, have been successfully used in blind identification of acoustic emissions [7].…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
“…Sin embargo, la deconvolución se convierte en un problema mal condicionado cuando las señales son paso-banda, y por otra parte los estadísticos de la reflectividad sólo sonútiles en el caso de existir no gaussianidad. Otra posibilidad consiste en obtener los estadísticos de la reflectividad a través de la relación directa entre los estadísticos de la señal registrada (salida del LTV) y los estadísticos de la señal de entrada al LTV [10,19], pero los estadísticos de la reflectividad sólo sonútiles en el caso de existir no gaussianidad.…”
Section: Firma Ultrasónicaunclassified
“…Por otro lado enfatizar que las ventajas de aplicación del estimador ω mod c se acentúan para el caso de materiales más atenuantes (ver gráficas 4.17.có 4. 19.c), ya que en estos casos el sesgo y varianza del estimador ω c es mayor que en el caso de aplicación a materiales menos atenuantes. Para clarificar este punto se puede consultar la gráficas 4.…”
Section: Sesgo (Marcador '*' O 'O') Y Varianza (Barras Verticalesunclassified
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