Local probing instrumentation at Advanced Technologies Center: Surface and force devices with tunneling sensor

Abstract

Force and surface devices with tunneling sensor—scanning tunneling and atomic force microscopes—are constructed. Thermal drift, seismic and electronic noise are eliminated in precise experiments. The tunneling sensor is proved to be advantageous for large scale images and force versus distance measurements with high dynamic range and subnanometer resolution. The influence of adsorbate on scanning tunneling microscope (STM) images of graphite is demonstrated. The holes 2 nm in diameter are produced on graphite exposed at air using STM.

Объединенная Группа Сканирующей Зондовой Микроскопии.

“…Наличие у научной группы надежного инду стриаль ного партнера в лице инновационной ком пании "Центр перспективных технологий" [44,45] позволило решить многие научные, техниче ские и технологические вопросы самым быстрым образом. Прогресс группы во многом был обе спечен наличием оригинальных разработок в Центре перспективных технологий -различных моделей сканирующего зондового микроскопа: "Скан7" и "Скан8", "ФемтоСкан", "ФемтоСкан Х" и "ФемтоСкан XI".…”

“…Advanced Technologies Center [44,45] as a reliable industrial управлением всеми режимами измерений через Интернет. В "ФемтоСкан Х" реализованы сверх быстрые режимы измерений на частоте в 1 МГц.…”