Layered periodic disperse structures of spherical alumina particles: Coherent transmittance and reflectance spectra

Solar cells based on particulate structure of active layer: Investigation of light absorption by an ordered system of spherical submicron silicon particles

“…Next, we use these coefficients in the TMM to calculate the multilayer coherent transmittance and reflectance. This "QCA-TMM" method is described in detail in [60], and we do not present here corresponding formulas to omit repetition.…”

Scattering of Polarized and Natural Light by a Monolayer of Spherical Homogeneous Spatially Ordered Particles under Normal Illumination

“…In recent decades, monolayers of particles with sizes that are comparable to the wavelength of optical radiation have been actively studied, because they have great potential for use in optics, photonics, optoand microelectronics, and many other areas. They are used in research, development, and creation of solar cells, LEDs, photonic crystals, synthetic opals, antireflection coatings, transmission and reflection filters, diffuse scatterers, detectors, resonators, and lasers [1][2][3][4][5][6][7][8][9][10][11][12][13][14][15].…”

“…The method allows the analyzing of optical character-PHYSICAL OPTICS istics of monolayers of monodisperse spherical particles with almost any filling factor of the monolayer within the framework of QCA. The method was used for the description of coherent transmittance and reflectance of the radiation by three-dimensional dispersed structures [11,12,48], for the retrieval of the refractive index of the particles of three-dimensional photonic crystal [49,50], and the development of a model of a solar cell with an active layer from particles of silicon [13][14][15].…”

Рассеяние Поляризованного И Естественного Света Монослоем Сферических Однородных Пространственно Упорядоченных Частиц При Освещении По Нормали

“…11.46820.197-18 Введение В последние десятилетия активно исследуются монослои частиц, размеры которых сопоставимы с длиной волны оптического излучения, поскольку они имеют большой потенциал применения в оптике, фотонике, опто-и микроэлектронике и многих других областях. Они используются при исследовании, разработке и создании солнечных элементов, светодиодов, фотонных кристаллов, синтетических опалов, антиотражающих покрытий, фильтров пропускания и отражения, диффузных рассеивателей, детекторов, резонаторов, лазеров [1][2][3][4][5][6][7][8][9][10][11][12][13][14][15].…”

“…Метод позволяет в рамках ККП анализировать оптические характеристики монослоев монодисперсных сферических частиц практически с любым фактором заполнения монослоя. Метод использован при описании когерентного пропускания и отражения излучения трехмерными дисперсными структурами [11,12,48], для восстановления показателя преломления частиц трехмерного фотонного кристалла [49,50], разработки модели солнечного элемента с активным слоем из частиц кремния [13][14][15].…”