2022
DOI: 10.29057/icbi.v10iespecial3.8940
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La dimensión fractal como parte de un modelo computacional para predecir el espesor de películas delgadas de ZnO

Abstract: Si bien es cierto, existen aplicaciones computacionales en el campo nanométrico, particularmente en el contexto de la manipulación de imágenes SEM (scanning electron microscopy), también es cierto que esta área de estudio, aun presenta oportunidades en la construcción del conocimiento. Particularmente, en el presente estudio, se aborda la relación aparentemente biunívoca que puede generarse entre el espesor de una película delgada y la dimensión fractal de su imagen SEM ya segmentada. A través del uso del módu… Show more

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