Kleiner als ein Mikrometer

Abstract

Der Bedarf an hochauflösenden 3D-Computertomografie-Systemen (kurz: subµ-CT) zur Materialcharakterisierung wächst stetig. Herkömmlich werden für industrielle Anwendungen subµ-CT-Systeme verwendet, die mit geometrischer Vergrößerung arbeiten und hierbei Strukturauflösungen im unteren Mikrometerbereich erzielen. Wissenschaftlern des Fraunhofer-Enwicklungszentrum Röntgentechnik (EZRT) ist es nun gelungen, ein kompaktes Tischgerät für besonders hohe Ansprüche bei Anwendungen in der Materialforschung zu entwickeln.