Untitled

A-site deficient perovskite-type compounds in the ternary CaTiO3-LaCrO3-La2/3TiO3 system

“…MacEachern et al [33] studied the La 1−x TiO 3 system at 0.0 ≤ x ≤ 0.33 and showed that three different orhtorhobmic structures are formed in this concentration range: Pban at 0.25 ≤ x ≤ 0.33, Ibmm at 0.20 ≤ x ≤ 0.25 and Pbnm at 0.0 ≤ x ≤ 0.20. The cationdeficient La 2/3 TiO 3 compound is thermodynamically unstable in air below 1400 • C, but could be stabilized by low-level substitution by PbTiO 3 [34,35,30], Ti 3+ [30], alkali metals [36,37], Ca, Sr [38,39], Sc, Cr, Al [40,41], Nb [42] and Co [43]. The structure of La 2/3 TiO 3−δ could be stabilized also with the formation of oxygen vacancies [28,30].…”

Properties of Cu, Ni, and V doped-LaCrO 3 interconnect materials prepared by pechini, ultrasonic spray pyrolysis and glycine nitrate processes for SOFC

“…Armstrong et al [13] reported that Cu acts as an acceptor in the perovskite lattice, however, the presence of a small amount of Cu provides another undetermined mechanism for enhancing the conductivity. Kononyuk et al [17] reported Ni doping results in a drastic increase of electronic conductivity and a transition to a metallic conductor typical for LaNiO 3 , but, the stability and solid solution limit are considerably low. Also, Yasuda et al [18] reported that the activation energy of La 0.8 Sr 0.2 Cr 0.95 Ni 0.05 O 3 was 0.11eV, which suggests electrical conduction by the small-polaron hopping mechanism.…”

Using fractal analysis of the time-frequency spectra of vibroacoustical signals for diagnostic of gas-turbine engines

“…Для визначення i трактування фрактальної розмiрностi iснує декiлька методiв та пiдходiв, математичнi основи яких досить детально наведено в [19]. Однiєю з фрактальних розмiрностей для аналiзу зображень, якi найбiльш просто визначаються i набули поширення на практицi, є фрактальна клiтинна розмiрнiсть (box-counting dimension) або розмiрнiсть Мiнковського (РМ) [13,14,18,19].…”

“…Для визначення i трактування фрактальної розмiрностi iснує декiлька методiв та пiдходiв, математичнi основи яких досить детально наведено в [19]. Однiєю з фрактальних розмiрностей для аналiзу зображень, якi найбiльш просто визначаються i набули поширення на практицi, є фрактальна клiтинна розмiрнiсть (box-counting dimension) або розмiрнiсть Мiнковського (РМ) [13,14,18,19]. Обчислення РМ проводиться та такою процедурою: об'єкт А (геометричний елемент, зображення) покривається квадратною сiткою з деяким вiдомим розмiром комiрки (довжиною сторони) 𝜀; пiдраховується кiлькiсть комiрок 𝑁 (𝐴, 𝜀), якi мiстять фрагмент дослiджуваного об'єкта А, зберiгається пара значень 𝜀 та 𝑁 (𝐴, 𝜀); сiтка деталiзується, тобто розмiр комiрки 𝜀 зменшується, тодi кiлькiсть пiдрахованих комiрок 𝑁 (𝐴, 𝜀) з фрагментами об'єкта збiльшується, в результатi зберiгається нова пара значень 𝜀 та 𝑁 (𝐴, 𝜀); процедура деталiзацiї повторюється багаторазово, за отриманими результатами будується графiк у подвiйних логарифмiчних координатах; якщо зображення, що аналiзується, має властивостi масштабної iнварiантностi (скейлiнгу), то отриманий для послiдовностi точок графiк є лiнiйним (з вiрогiднiстю апроксимацiї за Пiрсоном 𝑅 2 ≥ 0, 9), в протилежному випадку для отриманого графiку проводиться лiнiйна апроксимацiя, значення РМ визначається як кутовий коефiцiєнт (тангенс кута нахилу) побудованої лiнiї регресiї.…”