2004
DOI: 10.1023/b:gpac.0000016396.36549.ad
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Investigation into the Influence of Fractal-Matrix Structurizers on the Formation and Growth of Nanostructures

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1
1

Citation Types

0
1
0
1

Year Published

2008
2008
2020
2020

Publication Types

Select...
3

Relationship

1
2

Authors

Journals

citations
Cited by 3 publications
(2 citation statements)
references
References 4 publications
0
1
0
1
Order By: Relevance
“…The next step in the understanding of self-organizing processes from the standpoint of the nanostate can consists in investigating metal ultrathin (~0.1-0.3 µm) films prepared by magnetron sputtering onto silicon and glasses (Fig. 3) [42][43][44][45]. If the film is formed under "normal" conditions, this is a conventional film prepared by magnetron sputtering with the structure reproducing the structure of the substrate used for its deposition.…”
Section: Ch 3 C (+) Hphbmentioning
confidence: 99%
“…The next step in the understanding of self-organizing processes from the standpoint of the nanostate can consists in investigating metal ultrathin (~0.1-0.3 µm) films prepared by magnetron sputtering onto silicon and glasses (Fig. 3) [42][43][44][45]. If the film is formed under "normal" conditions, this is a conventional film prepared by magnetron sputtering with the structure reproducing the structure of the substrate used for its deposition.…”
Section: Ch 3 C (+) Hphbmentioning
confidence: 99%
“…Однако, для наноразмерных пленок хрома, полученных методом термовакуумного напыления, не удавалось получить фрактальные структуры на всей площади поверхности пленки [7,8] Имеется мнение [9,10], что параметр фрактальной размерности может и должен использоваться в качестве эффективной характеристики развитости микро-и наноструктуры шероховатой поверхности, а величина фрактальной размерности эквивалентно заменяет целый комплекс амплитудных и шаговых характеристик шероховатости поверхности. Однако, как правило, в технологических процессах требуется не только использовать наноразмерные пленки с заданным значением фрактальной размерности, но и производить контроль определенных высотных параметров, а иногда и требуется комплексный учет всех вышеперечисленных параметров [11][12][13]. Современные технологии искусственного создания деталей рельефа [14][15][16][17] уже позволяют обеспечивать воспроизводимость условий для формирования наноразмерных металлических пленок с фрактальной структурой на твердых поверхностях.…”
Section: Introductionunclassified