1985
DOI: 10.1016/0272-8842(85)90171-3
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Interaction between creep, oxidation and microporosity in reaction-bonded silicon nitride

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1

Citation Types

0
0
0
1

Year Published

2017
2017
2017
2017

Publication Types

Select...
1

Relationship

0
1

Authors

Journals

citations
Cited by 1 publication
(1 citation statement)
references
References 0 publications
0
0
0
1
Order By: Relevance
“…Благодаря быстрому образованию сплошной защитной пленки по абсолютной величине окисление при высоких температурах меньше, чем при низких. Так как зарастание тонких каналов происходит быстрее, то имеют преимущество тонкопористые материалы [37][38][39][40]. Для защиты от окисления РСНК при относительно низких температурах (800-1100 °С) в ряде работ рекомендуется также предварительная выдержка при более высоких температурах (1350-1450 °С) для образования защитной оксидной пленки (см., например, [41]).…”
Section: íàó×íûå èññëåäîâàíèß è ðàçðàáîòêèunclassified
“…Благодаря быстрому образованию сплошной защитной пленки по абсолютной величине окисление при высоких температурах меньше, чем при низких. Так как зарастание тонких каналов происходит быстрее, то имеют преимущество тонкопористые материалы [37][38][39][40]. Для защиты от окисления РСНК при относительно низких температурах (800-1100 °С) в ряде работ рекомендуется также предварительная выдержка при более высоких температурах (1350-1450 °С) для образования защитной оксидной пленки (см., например, [41]).…”
Section: íàó×íûå èññëåäîâàíèß è ðàçðàáîòêèunclassified