2012
DOI: 10.1002/pssc.201100751
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Influence of oxygen on light emission from amorphous silicon nanoclusters

Abstract: Surface effects, in particular oxygen passivation, are known to have drastic influence on emission spectra of semiconductor nanoclusters. The goal of this work was to obtain light emission from amorphous silicon nanoclusters by means of oxygen passivation. Granulated films of amorphous silicon nanoclusters were fabricated by the laser electrodispersion technique, which allows obtaining nanoclusters of uniform sizes. Two methods were applied in order to incorporate oxygen into the films, and both result in impr… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1

Citation Types

0
0
0
1

Year Published

2013
2013
2018
2018

Publication Types

Select...
5

Relationship

0
5

Authors

Journals

citations
Cited by 5 publications
(2 citation statements)
references
References 0 publications
0
0
0
1
Order By: Relevance
“…Край погло-щения слоя наночастиц кремния сдвинут в коротко-волновую область по отношению к краю поглощения монокристаллического кремния [13], что позволяет свя-зать коротковолновый максимум с генерацией фотоно-сителей заряда в слое наночастиц. Длинноволновый же максимум можно отнести к генерации носителей заряда в кремниевой подложке, так как и его положение, и сдвиг при понижении температуры примерно соответ-ствуют величине и изменению с температурой ширины запрещeнной зоны объeмного кремния.…”
Section: мп тепляков ос кен дн горячев ом среселиunclassified
“…Край погло-щения слоя наночастиц кремния сдвинут в коротко-волновую область по отношению к краю поглощения монокристаллического кремния [13], что позволяет свя-зать коротковолновый максимум с генерацией фотоно-сителей заряда в слое наночастиц. Длинноволновый же максимум можно отнести к генерации носителей заряда в кремниевой подложке, так как и его положение, и сдвиг при понижении температуры примерно соответ-ствуют величине и изменению с температурой ширины запрещeнной зоны объeмного кремния.…”
Section: мп тепляков ос кен дн горячев ом среселиunclassified
“…The origin of the β peak (~ 2.07 eV) is the quantum dots with the diameter of 2 nm which was theoretical studied by Nishio et al [14]. However, another viewpoint was proposed by Yeltsina et al They demonstrated that the luminescence of Si NCs in silicon oxide shells is also located at ~ 2.07 eV [15]. In our experiment, the β peak experiences a redshift of about 0.06 eV as annealing temperature increasing from 800 ºC to 950 ºC.…”
mentioning
confidence: 98%